変位検出方法、及び、変位検出装置、変位検出プログラム、並びに、特徴点マッチング処理方法、特徴点マッチングプログラム

開放特許情報番号
L2008003528
開放特許情報登録日
2008/7/11
最新更新日
2009/12/4

基本情報

出願番号 特願2007-556824
出願日 2007/1/24
出願人 国立大学法人電気通信大学
公開番号 WO2007/088759
公開日 2007/8/9
登録番号 特許第4385139号
特許権者 国立大学法人電気通信大学
発明の名称 変位検出方法、及び、変位検出装置、変位検出プログラム、並びに、位相特異点マッチング処理方法、位相特異点マッチング処理プログラム
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 レーザースペックルパターン、ランダムドットパターン、相関法
目的 位相特異点の構造を特徴付ける要素から所望の位相特異点を特定することにより変位前後の位相特異点を確実に特定し、その変位を容易、かつ、確実に、さらには、回転変位を含む種々の変位を検出できる変位検出方法、及び、変位検出装置、変位検出プログラム、並びに、特徴点マッチング処理方法、特徴点マッチングプログラムの提供。
効果 本技術によれば、位相特異点の位相構造から所定の要素を取得し、要素に基づいて位相特異点を特定することにより、変位前後の各位相特異点を一意に特定することができ、これによって、変位後の位相特異点を追跡できる。
技術概要
この技術は、変位前後の位相特異点から変位を検出する変位検出方法であって、位相特異点の位相構造から所定の要素を取得し、要素に基づいて位相特異点を特定し、変位後の位相特異点の位置を検出する。このとき、取得される要素は、位相特異点近傍の実部と虚部の値を平面で補間し、その結果、実部がゼロとなる線分と虚部がゼロとなる線分とが交差する角度、位相特異点近傍の強度分布の形状の離心率、位相特異点近傍の強度の勾配である。また、特定された位相特異点の変位前後の位置を要素に基づいて特定し、特定された変位前後の位相特異点の位置に基づいて位相特異点の変位を測定する。このとき、変位前後の位相特異点の位置の座標の差分の二乗平方根を位相特異点の変位量として算出する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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