反射特性評価装置、反射特性評価方法および反射特性評価プログラム

開放特許情報番号
L2008002315
開放特許情報登録日
2008/5/16
最新更新日
2012/11/27

基本情報

出願番号 特願2008-066794
出願日 2008/3/14
出願人 富士通株式会社、学校法人慶應義塾
公開番号 特開2009-222529
公開日 2009/10/1
登録番号 特許第5089448号
特許権者 富士通株式会社、学校法人慶應義塾
発明の名称 反射特性評価装置、反射特性評価方法および反射特性評価プログラム
技術分野 情報・通信、電気・電子
機能 機械・部品の製造、検査・検出、制御・ソフトウェア
適用製品 反射特性評価装置、および反射特性評価プログラム
目的 コストをかけることなく、安定して精度の高い表面の反射特性を判定することが可能である反射特性評価装置、反射特性評価方法および反射特性評価プログラムを提供する。
効果 この反射特性評価装置によれば、コストをかけることなく、安定して精度の高い表面の反射特性を判定することが可能である。
技術概要
図1および図2は、反射特性評価装置の概要および特徴を示す図である。この反射特性評価装置は、所定の装置に搭載するカメラによって撮影された画像を入力画像として、入力画像における路面や地面あるいは床などの表面部分の反射特性を評価して出力する。そして、この反射特性の評価は、モニタに出力したり、音声によってユーザに知らせたり、所定の装置の動作を制御したりする。反射特性評価装置は、カメラで撮影された画像が入力され、入力画像における表面部分の反射特性を出力する場合に、周囲部分の輝度変動の分散によって表面部分が鏡面反射であるか拡散反射であるかを判定するための閾値を決定し、表面部分の輝度変動が決定された閾値以上であれば鏡面反射とし、決定された閾値未満であれば拡散反射として出力する。図3は反射特性評価装置による反射特性評価処理を説明するためのフローチャート、図4は反射特性評価処理の詳細を説明するためのフローチャート、である。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 学校法人慶應義塾

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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