電子的スペックル干渉法を用いた変形計測方法および装置

開放特許情報番号
L2008002179
開放特許情報登録日
2008/5/2
最新更新日
2008/5/2

基本情報

出願番号 特願2002-275775
出願日 2002/9/20
出願人 国立大学法人埼玉大学
公開番号 特開2004-109075
公開日 2004/4/8
登録番号 特許第3955899号
特許権者 国立大学法人埼玉大学
発明の名称 電子的スペックル干渉法を用いた変形計測方法および装置
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造
適用製品 動的物体の時間的変形、位相アンラッピング、鏡面状態、位相分布
目的 電子的スペックル干渉法においても、位相アンラッピング処理を行う際に、位相分布曲線における位相の接続点の検出を自動化する程度まで容易なものとすることができ、観察物体の動的な変形、振動、歪等を高精度に解析し得る電子的スペックル干渉法を用いた変形計測方法および装置の提供。
効果 時間的かつ空間的に変化する被観察体であっても、容易に位相分布曲線を求めることができる上、スペックル干渉法に典型的なノイズを多く含む信号からも位相接続点の特定が容易であるから、自動化処理も可能で、極めて高精度な解析結果を得ることができる。
技術概要
この技術では、電子的スペックル干渉法を用いた変形計測方法は、スペックル干渉法を用いて得られた、動的被観察体の位相情報を担持したスペックルパターン画像に基づき、所定位相範囲に位相ラッピングされた被観察体の位相変化曲線を解析により求め、この後、位相変化曲線を位相アンラッピングする方法において、所定時間毎に得られた複数のスペックルパターン画像に基づき、画像各点毎の時間領域における強度信号を求め、強度信号の余弦成分を抽出し、抽出された余弦成分に、時間領域におけるヒルベルト変換処理を施して強度信号の正弦成分を求め、求められた正弦成分と余弦成分の比に基づいて画像各点毎の位相変化を求めて、被観察体の位相変化曲線を求める。また、画像各点毎の時間領域における強度信号の位相項に、位相項が単調増加または単調減少となるような時間キャリアを導入する位相成分を加算または減算することが好ましい。また、動的被観察体が引っ張り試験に供された試験片であるような場合に特に有用である。
実施実績 【試作】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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