イオン化装置、イオン化方法、ならびに、プログラム

開放特許情報番号
L2008001783
開放特許情報登録日
2008/4/4
最新更新日
2015/6/23

基本情報

出願番号 特願2007-311402
出願日 2007/11/30
出願人 独立行政法人理化学研究所
公開番号 特開2009-135043
公開日 2009/6/18
登録番号 特許第5057272号
特許権者 国立研究開発法人理化学研究所
発明の名称 イオン化装置、イオン化方法、ならびに、プログラム
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア、検査・検出
適用製品 イオン化装置、ならびに、プログラム
目的 電子サイクロトロン共鳴現象を用いて高分子の試料をイオン化し、対電荷質量比を分析するのに好適なイオン化装置、イオン化方法、ならびに、イオン化装置をコンピュータにより制御するためのプログラムを提供する。
効果 電子サイクロトロン共鳴現象を用いて高分子の試料をイオン化し、対電荷質量比を分析するのに好適なイオン化装置、イオン化方法、ならびに、イオン化装置をコンピュータにより制御するためのプログラムを提供することができる。
技術概要
図1は、イオン化装置の概要構成を示す模式図である。チャンバー部102においては、略円筒形状の真空槽の内部にプラズマを発生させる。真空槽の外周側には永久磁石や電磁石などが配置され、ミラー磁界やカスプ磁界、多極磁界等を生じさせて真空槽の中にプラズマを閉じ込める。一方、注入部103は、チャンバー部102内に、試料を単位時間当たり一定の注入量で注入する。一方、さらに、導波部104は、チャンバー部102内に、指定されたパワーの高周波(マイクロ波などの電磁波を含む)を入射する。そして、イオン化装置101は、チャンバー部102内が平衡状態を保つように真空装置を利用して一定の真空度(ガス圧)を維持するとともに、排出部105は、これと共働して、チャンバー部102内の物質を排出する。排出部105は、分子やイオンをポンプや高電圧電源等で排出する。図2は、この分析手法の制御の流れを示すフローチャートである。また、コンピュータに、排出部105から排出された物質の対電荷質量比の分布を分析する分析工程をさらに実行させるプログラムを提供する。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

アピール内容 実施許諾の可否・条件に関する最新の情報は、(独)理化学研究所連携推進部 知財創出・活用課までお問合せ下さい。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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