細胞物性測定装置

開放特許情報番号
L2008001338
開放特許情報登録日
2008/3/14
最新更新日
2013/7/19

基本情報

出願番号 特願2008-548321
出願日 2007/12/5
出願人 学校法人日本大学
公開番号 WO2008/069250
公開日 2008/6/12
登録番号 特許第5273660号
特許権者 学校法人日本大学
発明の名称 細胞物性測定装置
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 原子間力顕微鏡(AFM)、走査型プローブ顕微鏡(SPM)
目的 新しい方法で生体細胞の表面形状を測定できる細胞物性測定装置の提供。
効果 本技術によれば、細胞物性測定装置は、測定対象物に対し、探触子をXY平面内の任意の位置に相対的に移動させることができ、さらにXY平面に対する高さ方向にも相対的に移動させることができる。これにより、探触子を用いて測定対象物に対し2次元的に走査することができる。
技術概要
この技術の細胞物性測定装置は、探触子と、探触子を保持してXYZの3軸方向に移動させるためのXYZ移動機構と、さらに、探触子を高さ方向、すなわちZ方向に上下に移動させるための高さ移動機構と、XYZ移動機構と、高さ移動機構と、探触子のそれぞれに信号線を介して接続される制御部と、制御部に接続される表示部とを含んで構成される。制御部の接触検出モジュールは、位相シフト法を用いて、探触子が測定対象物に接触することを検出し、硬さ算出モジュールは、探触子を測定対象物に接触させて位相シフト法により硬さを求める機能を有する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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