電磁界高速撮像装置

開放特許情報番号
L2008001138 この特許が掲載されている活用例集をご覧頂けます
開放特許情報登録日
2008/2/29
最新更新日
2015/8/20

基本情報

出願番号 特願2006-192008
出願日 2006/7/12
出願人 独立行政法人情報通信研究機構
公開番号 特開2008-020304
公開日 2008/1/31
登録番号 特許第5084006号
特許権者 国立研究開発法人情報通信研究機構
発明の名称 電磁界高速撮像装置
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 電界・磁界の分布情報、二次元像、可視化、電磁界高速撮像装置
目的 検体が放射する近傍電磁界の分布を高速に取得できる電磁界高速撮像装置の提供。
効果 極めて短時間で近傍電磁界の分布画像を取得することができる。装置構成の低廉化を期せるという利点もある。
技術概要
この技術では、電磁界高速撮像装置は、周波数f↓(LO)で振幅変調した光を出力可能な照明装置を備えると共に、測定対象である検体が発する周波数f↓(RF)の電界又は磁界により複屈折特性が局所的に変化することで、照明装置から照射した光に局所的な偏光状態を生ぜしめ、周波数f↓(RF)の近傍電磁界で照明装置からの照明光を更に変調して周波数混合し、照明装置から照射した光の変調周波数f↓(LO)と検体から放射する電界又は磁界の周波数f↓(RF)との差周波成分Δf(|f↓(LO)−f↓(RF)|)を含む検出光を発生可能な電気光学素子または磁気光学素子を備えたプローブを備える。また、プローブからの検出光における局所的偏光状態を光の局所的強度に変換し、複数の画素を有するイメージセンサの撮像面に結像させる光電変換する撮像装置を備え、撮像装置のイメージセンサより画素毎に取り出した画素信号に含まれる差周波成分Δfを用いて検体から放射される近傍電磁界の分布情報を解析し、二次元像を生成する画像処理装置を備える。照明装置の光源には、レーザ光源を用いる。
実施実績 【試作】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2018 INPIT