粒子特性計測装置および粒子特性計測方法

開放特許情報番号

L2008000965

開放特許情報登録日

2008/2/22

最新更新日

2010/2/5

基本情報

出願番号	特願2006-154916
出願日	2006/6/2
出願人	国立大学法人　筑波大学
公開番号	特開2007-322329
公開日	2007/12/13
登録番号	特許第4411440号
特許権者	国立大学法人　筑波大学
発明の名称	粒子特性計測装置および粒子特性計測方法
技術分野	化学・薬品
機能	検査・検出
適用製品	粒子特性計測装置
目的	粒子径とゼータ電位を一度に測定するまた、ゼータ電位を精確に測定する装置及び方法を提供する。
効果	粒子径とゼータ電位を一度に測定することができる。また、ゼータ電位を精確に測定することができる。
技術概要	溶媒中に分散したブラウン運動を行う粒子を含む液体試料が収容された試料室１６ａと、試料室１６ａ内に配置された一対の電極１７と、一対の電極１７間に電界を発生させる電界発生回路１２と、電界中を電気泳動する粒子の移動を計測する粒子移動計測手段Ｐ１３ａと、電気泳動する粒子のブラウン運動による移動量に基づいて粒子径を検出する粒子径検出手段Ｐ１３ｂと、粒子の電気泳動による電気泳動移動度と粒子径とに基づいて、ゼータ電位を検出するゼータ電位検出手段Ｐ１３ｃと、を備えた粒子特性計測装置である（Ｄ０）。粒子特性計測装置は、粒子径検出手段により、粒子のブラウン運動によるブラウン運動平均自乗距離に関するアインシュタインの関係式と、ストークス−アインシュタインの式とに基づいて、粒子の粒子径を演算して検出できる。ゼータ電位検出手段は、粒子径と、前記電気泳動移動度と、ゼータ電位、粒子径および電気泳動移動度に関するヘンリーの式とに基づいて、ゼータ電位を検出する。図１は、全体説明図である。図２は、試料ホルダ部分の要部説明図である。
イメージ図
実施実績	【無】
許諾実績	【無】
特許権譲渡	【可】
特許権実施許諾	【可】

登録者情報

登録者名称	国立大学法人筑波大学

その他の情報

関連特許	国内 【無】 国外 【無】