ステレオカメラの校正方法および校正システム

開放特許情報番号
L2008000886
開放特許情報登録日
2008/2/22
最新更新日
2015/9/17

基本情報

出願番号 特願2007-274955
出願日 2007/10/23
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2009-103559
公開日 2009/5/14
登録番号 特許第5311365号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 ステレオカメラの校正方法および校正システム
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 3次元計測、位置姿勢パラメータ、光の軌跡
目的 複数のステレオカメラの視野を横断する光(線状光または)点状光を投影し、その軌跡を拘束条件として校正をすることで、固体の治具では困難なサイズの校正治具と等価な効果を得るステレオカメラの校正方法及び校正システムの提供。
効果 複数のステレオカメラ間の高精度な座標変換パラメータが得られることにより、大きな対象物に対しても高精度な三次元計測が可能となる。また、直線性を評価する関数により、座標変換パラメータにより一次および二次微分可能な簡便な直線性評価が行え、ニュートン法による近似が可能になる。
技術概要
本技術において、1線状光を投影する場合、線状光の軌跡は平面となるので、この軌跡上にターゲットをおき、その位置を各ステレオカメラで計測することで、各ステレオカメラの座標系における平面の方程式が計算できる。複数セットのステレオカメラで同様に平面の方程式を計算し、それらが同一の平面となるように拘束して相互の座標変換のパラメータ(平行移動3自由度および回転3自由度)を計算する。平面が共通という条件だけでは、平面の法線まわりの回転(1自由度)および平面内の平行移動(2自由度)が残るので、これを解決するために隣接するステレオカメラの重複する計測範囲に最低二個の平面の法線方向に並ばない点をおき、それを両側のステレオカメラで計測して座標変換後の位置が重なるようにすることで完全に拘束することができる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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