水銀含有量測定素子、水銀含有量測定装置及び水銀の含有量測定方法

開放特許情報番号
L2008000790
開放特許情報登録日
2008/2/22
最新更新日
2015/9/17

基本情報

出願番号 特願2007-227524
出願日 2007/9/3
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2008-089580
公開日 2008/4/17
登録番号 特許第4822284号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 水銀含有量測定素子、水銀含有量測定装置及び水銀の含有量測定方法
技術分野 電気・電子、金属材料
機能 検査・検出
適用製品 水銀含有量測定素子、水銀含有量測定装置、水銀の含有量測定方法
目的 水分の存在下でも鋭敏に水銀を正確に、簡便に測定でき、容易に移動できる新規な水銀含有量測定素子、水銀含有量測定装置及び水銀の含有量測定方法の提供。
効果 水晶振動子の電極表面または電極材料として、水銀と合金(アマルガム)を作る金属を用いて、これに測定対象である水銀を接触せしめると、測定対象である水銀は金属表面に吸着されて、水銀を吸着したことによる質量変化による水晶振動子の周波数特性が変化するので、これにより気体中、液体中又は固体中の水銀の濃度を簡便に短時間で容易に定めることができる。
技術概要
この技術では、水銀含有量測定素子は、水晶振動子の電極表面を水銀と合金(アマルガム)を形成する金属により被覆してなり、又は電極が水銀と合金(アマルガム)を形成する金属により構成してなり、かつ、被覆した電極表面若しくは電極表面を鏡面加工してなるものとする。又、電極表面、(及び水晶振動子表面)を少なくとも0.06μm以下の粗さで鏡面加工することが好ましい。水銀と合金を作る金属を金とすることが有効である。また、水銀と合金を作る金属を銀とすることが有効である。水銀と合金を作る金属により電極表面を形成するにあたっては、水晶板に対する金属電極の大きさも測定に支障がない範囲とし、好ましくは2〜7mm程度とする。電極金属の厚さは、蒸着もしくはスパッタ法による薄膜の均質で緻密な薄膜の場合には比較的表面積が小さいので通常1〜200nm、好ましくは1〜100nmとする。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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