| 出願番号 |
特願2007-222612 |
| 出願日 |
2007/8/29 |
| 出願人 |
独立行政法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 |
特開2009-054098 |
| 公開日 |
2009/3/12 |
| 登録番号 |
特許第4840822号 |
| 特許権者 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 発明の名称 |
画像処理方法、装置およびプログラム |
| 技術分野 |
情報・通信 |
| 機能 |
機械・部品の製造、制御・ソフトウェア、検査・検出 |
| 適用製品 |
画像処理装置およびプログラム |
| 目的 |
ステレオ相関法において、対応点探索を行う際に等輝度線密度を使ってテクスチャ強度を評価して適切なウィンドウサイズを選択することで一意性の低下を防ぎ安定した対応点を得て正確な距離を計測する。また、この等輝度線密度の評価方法として、対象点から等輝度線までの距離を指標とする方法、対象点の近傍に評価用のウィンドウを設けてその内部に存在する等輝度線上の点の数を係数したものを指標とする方法、計数時に重複した等輝度線に重みづけたものを指標とする方法を提供する。 |
| 効果 |
この画像処理方法は、テクスチャ強度の弱い部分において対応点の一意性が安定しない場合に、ウィンドウサイズを自動的に決定し、正しい対応点を探索し、その結果としてステレオ相関法の出力である距離画像の精度を高める。 |
技術概要
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図１は、手順を示す。まず、基準画像と参照画像を入力する。なお、入力する画像はあらかじめ校正されたカメラパラメータによって基準画像中の任意の対象点の対応点候補が参照画像中で水平線上に並ぶように座標変換されているものとする。次に、基準画像に対して等輝度線画像を作成する。さらに、等輝度線画像から、等輝度線画像密度評価処理をして、等輝度線密度評価画像を得る。次に、基準画像内で対象点をラスター走査する。この時点で、対象点の座標値ｉにより等輝度線密度評価画像を参照した等輝度線密度値に基づき一意性の評価が低くなる場合に大きくするように適したウィンドウサイズを決定する。次に、対象点および参照画像中の対応候補点すべてに対するウィンドウをとりだし、それらに対する相関値を、ステレオ相関法処理により計算する。その結果をもとにもっとも類似度の高い対応点を探索し、対象点と対応点の位置関係から３次元座標値を計算し、距離画像に蓄積する。図２は対象点から最寄りの等輝度線までの距離を評価値とする等輝度線密度評価画像作成の例である。図３は評価用のウィンドウ内の等輝度線画像の画素値の積算値を評価値とする積算する等輝度線密度評価画像作成の例である。 |
| イメージ図 |
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| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
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