屈折率測定方法及び装置

開放特許情報番号
L2008000727
開放特許情報登録日
2008/2/22
最新更新日
2015/9/17

基本情報

出願番号 特願2007-176243
出願日 2007/7/4
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2009-014487
公開日 2009/1/22
登録番号 特許第4915943号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 屈折率測定方法及び装置
技術分野 情報・通信、無機材料、その他
機能 検査・検出、その他
適用製品 光学部品、光学機器
目的 この発明は、被補償プリズムと補償プリズム、を組み合わせることによってマッハ・ツェンダー干渉計を構成させた、高精度屈折率計を提供する。
効果 この発明の方法によれば、干渉計測の精度を向上させることができ、屈折率の標準測定装置としても使用可能な、高精度の屈折率の計測を行うことが出来る様になる。
技術概要
従来から、光関連産業において、光学材料の屈折率を測定する装置が存在していたが、近年光学デバイスに求められる性能が高くなっており、屈折率についても精密な測定が必要になってきている。この発明の屈折率測定装置は、図に示す様に、被測定プリズム、補償用プリズム、マッチング液、光源、第1ビームスプリッター、ミラー、第2ビームスプリッター、レーザー測長器から構成されている。補償用プリズムの斜面の全反射を避けるため、被測定プリズムと補償用プリズムの間に適当な屈折率の屈折率マッチング液が満たされている。第1ビームスプリッターを透過した光は、ミラーを介して第2ビームスプリッター、被測定プリズムの底面から出射する光と合成し、全体としてマッハ・ツェンダー干渉計を構成して合成波によって位相測定が行われる。屈折率は、被測定プリズムの屈折率、マッハ・ツェンダー干渉計の測定値から求められる光路長変化値及び被測定プリズムの移動量から求められる。干渉計としては、マイケルソン干渉計等、他の各種の二光束干渉計を用いることも出来る。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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