観測画像信号解析のための濃淡画像処理方法

開放特許情報番号
L2008000076
開放特許情報登録日
2008/1/11
最新更新日
2008/6/13

基本情報

出願番号 特願2001-068723
出願日 2001/3/12
出願人 北海道大学長
公開番号 特開2002-269541
公開日 2002/9/20
登録番号 特許第3416736号
特許権者 国立大学法人北海道大学
発明の名称 観測画像信号解析のための濃淡画像処理方法
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 観測画像信号解析のための濃淡画像処理システム
目的 磁気力顕微鏡(MFM)信号を本来の二次元信号として処理し、従来の方法に比べ、高精度な観測画像信号解析を可能とする濃淡画像信における特定濃度領域の形状及び方向性を得る濃淡画像処理方法を提供する。特に、磁気記録媒体のMFM観察像から磁気記録媒体の磁極領域の分布形状及び方向性を得る方法を提供する。
効果 観測画像ディジタル信号において、2値化、ハフ変換といった画像処理方法で解析することにより、特定濃度領域の方向性を特定できるようになる。この方法により、分布形状の直線性が発見でき、さらに、ハフ変換のパラメータから信号の性質を解析できる。特に、MFM信号の特徴解析に用いることによって、媒体の性質を解析する上で重要な媒体ノイズに関係する記録磁化状態を評価する定量値を発見することができる。
技術概要
濃淡画像信号における特定濃度領域の形状を得る濃淡画像処理方法は、濃淡画像信号を二値化し、二値化画像を得るステップと、二値化画像に対して細線化アルゴリズムを適用し、線要素を抽出し、細線化画像を得るステップとを含む。また、濃淡画像信号における特定濃度領域の方向性を特定する濃淡画像処理方法は、濃淡画像信号を二値化し、二値化画像を得るステップと、二値化画像に対して細線化アルゴリズムを適用し、線要素を抽出し、細線化画像を得るステップと、細線化画像における線要素にハフ変換を適用するステップとを含む。図1、aは磁気記録媒体AのMFM画像であり、bは磁気記録媒体Aの細線化画像であり、cは磁気記録媒体BのMFM画像であり、dは磁気記録媒体Bの細線化画像であり、eは磁気記録媒体CのMFM画像であり、fは磁気記録媒体Cの細線化画像である。図2、aは磁気記録媒体Aの線成分の傾き分布を示すヒストグラムであり、bは磁気記録媒体Bの線成分の傾き分布を示すヒストグラムであり、cは磁気記録媒体Cの線成分の傾き分布を示すヒストグラムである。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

導入メリット 【改善】
改善効果1 その利用を考えた場合には、電子工学にとどまらず、画像処理一般、特に医学(自動診断)の分野にも応用することができる。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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