分光測光器

開放特許情報番号
L2007007865
開放特許情報登録日
2007/12/21
最新更新日
2007/12/21

基本情報

出願番号 特願平11-029618
出願日 1999/2/8
出願人 株式会社島津製作所
公開番号 特開2000-227360
公開日 2000/8/15
登録番号 特許第3405250号
特許権者 株式会社島津製作所
発明の名称 分光測光器
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 分光測光器
目的 不整を有する基準試料を用いた場合でもサンプルの反射率計算に対する影響を希釈し、かつ照明ムラ等の影響を有効にキャンセルして、サンプル表面の2次元領域の各々の点における反射スペクトルを精細に測定し得る分光測光器を提供する。
効果 比較的少ないコンピュータメモリー容量で、不整の影響の大幅低減または除去を可能にし、かつ光源の照射ムラをキャンセルしてサンプル表面の2次元領域にわたり精細な反射率スペクトルデータを取得できる。
技術概要
反射率スペクトルデータを得るための基準試料上に不整がある場合でも、基準試料と光学系との相対的位置関係を変化させながら測定し、2次元領域の各々の点に対する複数のデータを平均化処理する際に基準値を得る。
実施実績 【有】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

登録者名称 株式会社島津製作所

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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