超音波試験方法及びこれに用いる超音波試験装置

開放特許情報番号
L2007007524
開放特許情報登録日
2007/11/30
最新更新日
2015/10/29

基本情報

出願番号 特願2004-331033
出願日 2004/11/15
出願人 独立行政法人 宇宙航空研究開発機構、非破壊検査株式会社
公開番号 特開2006-138818
公開日 2006/6/1
登録番号 特許第3864180号
特許権者 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構
発明の名称 超音波試験方法及びこれに用いる超音波試験装置
技術分野 輸送
機能 検査・検出
適用製品 超音波試験装置
目的 非接触反射法でより明確に欠陥部を検出することの可能な超音波試験方法及びこれに用いる超音波試験装置を提供する。
効果 非接触反射法でより明確に欠陥部を検出することが可能となった。
技術概要
試験体の一側に設けた探触子から超音波を送信すると共に反射波を探触子で受信する超音波試験方法は、探触子が送信子と受信子とを備え、送信子及び受信子と試験体との間の気層を介して超音波を送受信し、反射波の伝播時間よりも送信子及び受信子間の気中伝播時間が長くなるように送信子、受信子及び試験体の相対位置を設定する。図1はこの超音波試験装置1を示し、この超音波試験装置1はパーソナルコンピューター(PC)2により制御されるバースト波発生装置5を用いてスキャンヘッド10の送信子20から超音波を送信し、受信子30を介して受信された超音波をプリアンプ6、フィルタ4、A/D3を介してPC2に受信し、処理を行う。また、PC2はドライバ7を介してスキャナ8を駆動させ、スキャンヘッド10により試験体100の表面を二次元的にスキャニングする。スキャンヘッド10は図2、3に示すように、送信子20、受信子30を備えている。図1は超音波試験装置のブロック図、図2は、スキャンヘッド縦断面図、図3は送信子を直立させた状態での図2のA−A断面相当図である。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2018 INPIT