量子効率測定方法および装置

開放特許情報番号
L2007003723
開放特許情報登録日
2007/8/3
最新更新日
2015/9/16

基本情報

出願番号 特願2007-112232
出願日 2007/4/20
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2008-268029
公開日 2008/11/6
登録番号 特許第4845131号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 量子効率測定方法および装置
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 光通信・情報処理分野、量子暗号、レーザーライダー、極微弱光検出、光応用計測分野
目的 光子検出器への入射光子数が未知であっても、更に、伝搬損失が避けられないような状況下でも、二台の光子検出器の量子効率を同時に、正確に測定するために必要な量子効率測定装置の提供。
効果 伝搬損失を考慮した正確な量子効率の測定ができるようになる。
技術概要
この技術は、励起光源と非線形導波路の間および非線形導波路と無偏光ビームスプリッタの間を着脱自在に光ファイバで接続すると共に、無偏光ビームスプリッタのそれぞれの光子の出力側をそれぞれ光子検出器に接続し、相関光子対発生装置で発生したシグナル光子とアイドラ光子をそれぞれの光子検出器で検出し、その検出したデータをそれぞれの光子検出器に個別に接続した計数器により計数して単計数率を求め、両計数器の同時に出力される出力信号を取り込んで所定の処理を行う同時計数器により計数して同時計数率を求め、励起光源と相関光子対発生装置の間および相関光子対発生装置と無偏光ビームスプリッタ間に対して、光ファイバを切り替えて接続した状態で相関光子対発生装置で発生したシグナル光子とアイドラ光子をそれぞれの光子検出器で検出し、その検出したデータをそれぞれの光子検出器に個別に接続した計数器により計数して単計数率を求め、両計数器の同時に出力される出力信号を取り込んで所定の処理を行う同時計数器により計数して同時計数率を求めて、それぞれの単計数率と同時計数率との関係からシグナル光子とアイドラ光子を検出するそれぞれの光子検出器における量子効率を求める。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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