粒子質量分析方法

開放特許情報番号
L2007003605
開放特許情報登録日
2007/8/3
最新更新日
2015/9/15

基本情報

出願番号 特願2007-059076
出願日 2007/3/8
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2008-224246
公開日 2008/9/25
登録番号 特許第4822278号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 粒子質量分析方法
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 複数種類の粒子が浮遊する気体、特定の比質量(粒子の質量/電荷)を有する粒子
目的 短時間で効率よく、かつ高精度に粒子質量分布を測定することができる粒子質量分析方法の提供。
効果 本技術によれば、電極電圧および/または電極の回転速度を所定の時間連続的に変化させつつ粒子の通過数と時間との関数を算出することによって、電極電圧を段階的に変更するたびに必要であった電極出口での粒子数濃度が安定するまでのアイドリング時間が全く不要になる。これによって、粒子質量分布の測定に要する時間を飛躍的に早めることが可能になる。
技術概要
 
この技術は、共通の対称軸まわりでそれぞれ回転する外側電極と内側電極との間に気体を連続的に吸引すると共に、両電極間に直流電圧を印加して静電場を形成し、気体中に含まれる粒子に働く静電気力と遠心力とのつりあいを利用して、特定の範囲の比質量をもつ粒子のみが浮遊する気体を連続的に外部に取り出す粒子質量分析方法であって、両電極間に印加する電圧を所定の時間連続的に変化させ、および/または両電極の回転速度を所定の時間連続的に変化させ、両電極の電圧および/または回転速度と時間との関数V(t)を得るとともに、粒子の通過数を時間の関数N(t)として算出し、次いで関数N(t)と関数V(t)との関係から関数N(V)を導出し、関数N(V)から粒子質量分布を得る。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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