複素誘電率測定装置及び方法

開放特許情報番号
L2007003144
開放特許情報登録日
2007/6/22
最新更新日
2007/6/22

基本情報

出願番号 特願2005-322547
出願日 2005/11/7
出願人 独立行政法人情報通信研究機構
公開番号 特開2007-127606
公開日 2007/5/24
発明の名称 複素誘電率測定装置及び方法
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 プリント配線基板、汎用絶縁材料、エレクトロニクス部品用微小電波吸収体
目的 誘電体の複素誘電率を測定する複素誘電率測定装置及び方法の提供。
効果 導波管に貫通される(N+1)層の円状棒体の1層を試料層とできるので、薄膜状態やフィルム状態や小径の線状態などで使用されるような従来では測定試料になり難い誘電体の複素誘電率の測定することができる。
技術概要
この技術では、複素誘電率が未知の試料層と複素誘電率が既知のN層(空気ギャップ層を含んでいてもよい)との軸対称の構造の物質よりなる(N+1)層の円状棒体を、対向する側壁に透孔が設けられている導波管に貫通固定する。次に、円状棒体が貫通固定された導波管についての伝播特性パラメータを測定する。そして、導波管と円状棒体との形状及びN層の既知の複素誘電率から理論的に定まる未知の複素誘電率の関数となっている伝播特性パラメータの理論式に対し、伝播特性パラメータの測定結果を適用して未知の試料層の複素誘電率を算出する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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