| 出願番号 |
特願2006-212661 |
| 出願日 |
2006/8/3 |
| 出願人 |
国立大学法人 岡山大学 |
| 公開番号 |
特開2008-039529 |
| 公開日 |
2008/2/21 |
| 登録番号 |
特許第4843788号 |
| 特許権者 |
国立大学法人 岡山大学 |
| 発明の名称 |
結晶方位同定方法及び結晶方位同定装置 |
| 技術分野 |
無機材料 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
結晶方位同定装置 |
| 目的 |
簡便に結晶方位の同定が可能であって、しかも微細な結晶粒に対して適用可能であり、被検体に含まれる添加物の影響を受けにくい結晶方位の同定方法及び結晶方位同定装置を提供する。 |
| 効果 |
機械的に結晶方位の同定を行うことにより被検体に含まれる添加物の影響を受けにくく、しかも、微細な結晶粒に対して適用可能であって、極めて簡便に結晶方位を同定できる。特に、機械的に結晶方位の同定を行うことにより、磁化された磁性材料などのようにＸ線回折や電子後方散乱回折法では結晶方位の同定が不可能な結晶体であっても結晶方位を同定できる。 |
技術概要
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結晶体における所定の結晶粒の結晶方位を同定する結晶方位同定方法は、結晶粒に圧子を押し込んで圧痕を形成するステップと、圧痕の形状を計測するステップと、圧痕の形状から結晶方位を同定するステップとからなる。圧子は多角錐形状として、圧痕の開口縁に複数の頂点を形成し、結晶方位を同定するステップでは、圧痕の開口縁に沿って隣接した２つの頂点を通過する仮想上の直線を想定するステップと、この２つの頂点間の開口縁の接線方向が前記直線と平行となる第１の点を特定するステップと、この第１の点から直線に向けておろした垂線の足となる第２の点を特定するステップと、第２の点を始点とし、第１の点を終点とする張出しベクトルを想定し、開口縁における全ての張出しベクトルを合成して合成張出しベクトルを特定するステップと、合成張出しベクトルの大きさから結晶方位を同定するステップとを有する。各張出しベクトルの大きさがそれぞれ所定値よりも小さい場合には、結晶方位を同定できないと判定するステップを有する。結晶粒に圧子を押し込むと、図１に示すように、結晶粒には、結晶方位と圧子の向きとの関係によって限定される方向に材料流れが生じた圧痕１０が形成される。 |
| イメージ図 |
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| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
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| 特許権実施許諾 |
【可】
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