異常検出装置および異常検出方法

開放特許情報番号
L2007002983
開放特許情報登録日
2007/6/15
最新更新日
2015/9/15

基本情報

出願番号 特願2007-022947
出願日 2007/2/1
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2008-191754
公開日 2008/8/21
登録番号 特許第4742370号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 異常検出装置および異常検出方法
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 制御・ソフトウェア、検査・検出
適用製品 異常検出装置、異常検出方法
目的 任意の被検出対象から得られた任意の多次元特徴データ(特徴ベクトル)から通常とは異なる異常状態を高い精度で検出することができる異常検出装置および異常検出方法の提供。
効果 従来異常であるのに正常と判定していた事象についても異常の判定が可能となり、異常判定の精度が向上する。特徴抽出や異常判定のための計算量が少なく、計算量は対象人数に依らず一定であり、実時間処理が可能である。
技術概要
この技術では、異常検出装置は、入力されたデータから特徴データを抽出する特徴データ抽出手段を備えると共に、予め求められている正常部分空間と特徴データ抽出手段により抽出した特徴データとの角度を計算する角度計算手段を備え、角度が所定値よりも大きい場合に異常と判定する第1の異常判定手段を備える。また、第1の異常判定手段によって異常と判定されなかった特徴データを正常部分空間へ射影する射影手段を備え、予め求められている正常部分空間内における正常サンプルの分布範囲情報に基づき、射影手段によって射影した特徴データが正常サンプルの分布範囲内か否かを判定する第2の異常判定手段を備える。また、更に、学習用の入力データに基づき、特徴データ抽出手段によって抽出した複数の特徴データから主成分分析手法により得た主成分ベクトルに基づいて正常部分空間を算出し、更に射影手段によって正常部分空間に射影した特徴データから正常部分空間内における正常サンプルの分布範囲情報を算出する学習手段を備える。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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