物体の歪を検出する方法およびその装置

開放特許情報番号
L2007001521
開放特許情報登録日
2007/3/23
最新更新日
2015/10/12

基本情報

出願番号 特願2005-060454
出願日 2005/3/4
出願人 独立行政法人物質・材料研究機構
公開番号 特開2006-242819
公開日 2006/9/14
登録番号 特許第5164086号
特許権者 国立研究開発法人物質・材料研究機構
発明の名称 物体の歪を検出する方法およびその装置
技術分野 機械・加工
機能 検査・検出
適用製品 物体の歪を検出する装置
目的 物体の歪による変形量を大面積にわたって、容易に検出する方法、および、その装置を提供する。
効果 周期的に配列した、第1の面間隔を有する粒子と、粒子間の間隙を埋める弾性体とを含む検出膜を物体に適用するだけでよいので簡便である。
技術概要
検出膜が適用された物体の歪を検出する装置は、検出膜が、周期的に配列した、第1の面間隔を有する粒子と、粒子間の間隙を埋める弾性体とを含み、検出膜を介して物体の表面に光を照射する光源を含む光学系と、検出膜中の粒子で反射された光を受光する受光手段であって、物体に歪が生じていない場合、第1の面間隔を有する粒子で反射された光を受光し、物体に歪が生じている場合、歪に応じて第1の面間隔から所定の関係を満たすように変化した第2の面間隔を有する粒子で反射された光を受光する、受光手段を備え、これにより反射した光の波長から求めた第2の面間隔と、第1の面間隔とから物体の歪量を算出し得る。粒子は、ポリスチレン粒子、PMMA粒子およびシリカ粒子から選択され、弾性体は、シリコーンゴムまたは人工ゴムである。受光手段は、反射分光スペクトルメータ、分光スペクトルメータ、光学顕微鏡、デジタルカメラ、CCDカメラ、及び、これらの組み合わせから選択され得る。図1は、物体の歪を検出する原理を示す模式図、図2は、物体の歪を検出する装置の模式図である。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

導入メリット 【改善】
改善効果1 このような検出膜は、大面積の作製が容易であり、物体の広範囲にわたって適用することができる。物体に歪が生じている場合、歪に応じて変化した第2の面間隔を有する粒子で反射された光を受光する。この反射された光に基づいて歪分布を検出することができる。特に、反射された光が、可視光領域の波長を有する場合には、検出膜の構造色変化として歪分布を目視にて検出することができる。検出された構造色から半定量的に歪量分布を判定することも可能である。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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