| 出願番号 |
特願2005-065908 |
| 出願日 |
2005/3/9 |
| 出願人 |
国立大学法人高知大学 |
| 公開番号 |
特開2006-250633 |
| 公開日 |
2006/9/21 |
| 登録番号 |
特許第4517149号 |
| 特許権者 |
国立大学法人高知大学 |
| 発明の名称 |
硬さ測定器および硬さ測定装置、ならびに硬さ評価方法 |
| 技術分野 |
機械・加工 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
硬さ測定器、硬度測定器 |
| 目的 |
対象物の硬さを容易に測定できる測定器および測定器を備えた測定装置、ならびに硬さを評価する方法を提供する。 |
| 効果 |
この測定器では、接触子が対象物と接触する面を球状にすることで、接触子を押し込む角度に幅を持たせることができる。さらにこの測定器では、変位量を用いることなく対象物からの応力と接触面積から硬さ測定しているため、固定されていない不随意な動きをする対象物でも硬さを容易に測定することができる。 |
技術概要
 |
この測定器は、対象物に押圧される球状接触面を有する接触子と、押圧時の接触面積を測定する機構を有する接触面積測定部と、押圧に伴う対象物からの反力を測定する応力測定部とを備える。図１にしめす様に、測定器は接触子１、接触面積測定部２、応力測定部３から構成される。接触子１とは、対象物４に押圧させる部分であり、少なくとも対象物４に接触させる面が球状となっているため、接触子１を必ずしも対象物４に対して垂直に押圧させる必要はなく、接触子１を対象物４に押圧させる角度にある程度の幅を持たせることができる。具体的には、対象物４の垂線に対して±９０°の角度の範囲内で押圧させることができる。また、図２に示すように、接触子１の球状面の少なくとも対象物４と接触する部位では、対象物４との接触を判定する構成（接触子の裏面に複数の歪測定器を配するなど）を有す。接触子１の表面に複数の触覚センサ５を配設した構成を取る。触覚センサ５としては、対象物４と接触した領域についてはオン信号を出力できるものが挙げられ、面積の限られた球状接触面に多数の触覚センサ５を配置する必要があることから、図３に示すような半導体センサを利用する。 |
| イメージ図 |
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| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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