| 出願番号 |
特願2005-174118 |
| 出願日 |
2005/6/14 |
| 出願人 |
国立大学法人京都大学 |
| 公開番号 |
特開2006-350553 |
| 公開日 |
2006/12/28 |
| 登録番号 |
特許第4521568号 |
| 特許権者 |
国立大学法人京都大学 |
| 発明の名称 |
対応点探索方法、相互標定方法、３次元画像計測方法、対応点探索装置、相互標定装置、３次元画像計測装置、対応点探索プログラム及び対応点探索プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| 技術分野 |
情報・通信、土木・建築 |
| 機能 |
機械・部品の製造、検査・検出 |
| 適用製品 |
対応点探索装置、相互標定装置、３次元画像計測装置、対応点探索プログラム及び対応点探索プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| 目的 |
特殊なターゲットを用いることなく、土木分野においても好適に利用できる対応点探索を実現する。 |
| 効果 |
各撮影画像において目立つ対象物を用いることにより、的確な対応点の判定を行うことができる。 |
技術概要
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図１は３次元画像計測の処理の流れを示すフローチャート、図２は図１の処理を行うための装置のブロック構成を示すブロック図である。本３次元画像計測には、デジタルカメラ１と、３次元画像計測装置２と、ディスプレイ３と、キーボード４とを用いる。デジタルカメラ１は、計測対象を撮影することにより、その撮影画像を示すデジタル画像データを生成する。３次元画像計測装置２は、上記撮影画像のデジタル画像データと、その撮影条件とに基づいて、計測対象の３次元形状を算出する装置である。３次元画像計測装置２は、パーソナルコンピュータなどのコンピュータにおいて所定のプログラムを実行させることによって構成することができる。このようにして構成される３次元画像計測装置２は、プログラムを実行させることによって実現される複数の機能ブロック、すなわち標定点候補抽出処理部（抽出手段）２１、特徴表現処理部２２（楕円パラメータ算出部（楕円パラメータ算出手段）２２ａ及び非対称性認識部（非対称性認識手段）２２ｂ）、相互標定要素取得処理部（取得手段）２３、標定点探索処理部（判定手段）２４、相互標定処理部２５、及び３次元形状処理部２６を備える。 |
| イメージ図 |
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| 実施実績 |
【試作】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【可】
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| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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