| 出願番号 |
特願2005-124303 |
| 出願日 |
2005/4/21 |
| 出願人 |
国立大学法人福井大学 |
| 公開番号 |
特開2006-300785 |
| 公開日 |
2006/11/2 |
| 登録番号 |
特許第4403274号 |
| 特許権者 |
国立大学法人福井大学 |
| 発明の名称 |
電磁波出力測定装置 |
| 技術分野 |
電気・電子 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
電磁波出力測定装置 |
| 目的 |
導波管内を伝搬する電磁波のメインビームに影響を及ぼすことなく本稼動中にリアルタイムで電磁波出力を測定することができる電磁波出力測定装置を提供する。 |
| 効果 |
導波管に穿設された複数の孔部から外部に漏出した電磁波を用いて電磁波の出力測定を行うようにしているので、導波管内を伝搬するメインビームに対して影響を及ぼすことなく測定を行うことが可能となる。また、各孔部から漏出する電磁波を所定波長ずつずらすことで、漏出した電磁波の干渉により平面波が形成されるようになり、形成された平面波を測定することで漏出した電磁波の出力を正確に測定することが可能となる。 |
技術概要
 |
高出力マイクロ波加熱装置は、高周波のマイクロ波出力装置としてジャイロトロン１、出力されたマイクロ波を所望の方向に伝搬させるコルゲート導波管２及び内部に被加熱物が設置されたアプリケータ３を備えている。そして、コルゲート導波管２に隣接して電磁波出力測定装置４が配置されている。コルゲート導波管２には管軸方向に沿って複数の孔部が形成されており、これらの孔部から外部に漏出した電磁波が干渉して形成された平面波をアンテナ部４０で測定してコルゲート導波管２内の出力を算出する。図１は、高出力マイクロ波加熱装置に関する正面図である。図２は、電磁波が漏出する部分に関する管軸方向Ｃ−Ｃに沿って切断した拡大断面図である。コルゲート導波管２の内周面には溝部２０が複数等間隔で形成されており、一部の溝部２０には、電磁波が漏出する孔部２１が夫々穿設されており、各孔部２１は、管軸方向Ｃ−Ｃに沿って配列されている。図３は、図２におけるＡ−Ａ断面図を示している。図３のように孔部２１が設けられた領域は、平面状に切断されて厚さが薄く形成され、孔部２１の深さＴがコルゲート導波管２内を伝搬する電磁波の波長以下となるように設定されている。 |
| イメージ図 |
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| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【可】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
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