高分子物質の示差走査熱量測定データから該物質中の結晶の結晶長分布を算出する方法

開放特許情報番号
L2007000557
開放特許情報登録日
2007/2/9
最新更新日
2009/2/13

基本情報

出願番号 特願2005-209342
出願日 2005/7/20
出願人 国立大学法人群馬大学
公開番号 特開2007-024735
公開日 2007/2/1
登録番号 特許第4228080号
特許権者 国立大学法人群馬大学
発明の名称 高分子物質の示差走査熱量測定データから該物質中の結晶の結晶長分布を算出する方法
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 DSC融解ピーク曲線、X線解析、安息香酸
目的 高分子物質のDSC融解ピークを実際に近い結晶長分布に変換することにより、X線解析で得られる分布とは異なった、熱に敏感で繊細な高分子物質の構造や性質を反映した結晶長分布を、X線解析装置及び融解温度Tmの補正に高純度の安息香酸を用いることなく、DSCデータに基づいて算出する方法の提供。
効果 高分子物質のDSC融解ピークを実際に近い結晶長分布に変換することができるとともに、熱に敏感で繊細な高分子物質の構造や性質を結晶長分布から予測することができる。またX線解析装置及び融解温度の補正に高純度の安息香酸を用いずに、簡便で安価に高分子物質の結晶長分布を算出することができる。
技術概要
この技術では、複数の所与の温度で熱処理したときの高分子物質のDSCデータから得られる複数の融解開始温度及び融解終了温度からこの物質のTm↑xとTb↑0を求める。これらのTm↑xとTb↑0を用いて、仮想融解ピークBのピーク点におけるヒートフロー(dQ/dt)↓pを求め、更に仮想融解ピークBの立ち上がり勾配Cを求める。次に融解ピークAの曲線と温度軸線で囲まれた吸熱量Qに相当する面積∫↓(Tb)↑(Te)(dQ/dt)dTを求め、TbからTeまでの各温度でのΔQ/Qに相当する(dQ/dt)/∫↓(Tb)↑(Te)(dQ/dt)dTを求める。各温度は立ち上がり勾配Cで補正する。高分子結晶の結晶長の一般式より、結晶長ζを求め、F(ζ)=(ΔQ/Q)/ζにΔQ/Qとともにζを代入してF(ζ)から結晶長分布を求める。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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