| 出願番号 |
特願2005-209342 |
| 出願日 |
2005/7/20 |
| 出願人 |
国立大学法人群馬大学 |
| 公開番号 |
特開2007-024735 |
| 公開日 |
2007/2/1 |
| 登録番号 |
特許第4228080号 |
| 特許権者 |
国立大学法人群馬大学 |
| 発明の名称 |
高分子物質の示差走査熱量測定データから該物質中の結晶の結晶長分布を算出する方法 |
| 技術分野 |
電気・電子 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
ＤＳＣ融解ピーク曲線、Ｘ線解析、安息香酸 |
| 目的 |
高分子物質のＤＳＣ融解ピークを実際に近い結晶長分布に変換することにより、Ｘ線解析で得られる分布とは異なった、熱に敏感で繊細な高分子物質の構造や性質を反映した結晶長分布を、Ｘ線解析装置及び融解温度Ｔｍの補正に高純度の安息香酸を用いることなく、ＤＳＣデータに基づいて算出する方法の提供。 |
| 効果 |
高分子物質のＤＳＣ融解ピークを実際に近い結晶長分布に変換することができるとともに、熱に敏感で繊細な高分子物質の構造や性質を結晶長分布から予測することができる。またＸ線解析装置及び融解温度の補正に高純度の安息香酸を用いずに、簡便で安価に高分子物質の結晶長分布を算出することができる。 |
技術概要
 |
この技術では、複数の所与の温度で熱処理したときの高分子物質のＤＳＣデータから得られる複数の融解開始温度及び融解終了温度からこの物質のＴｍ↑ｘとＴｂ↑０を求める。これらのＴｍ↑ｘとＴｂ↑０を用いて、仮想融解ピークＢのピーク点におけるヒートフロー（ｄＱ／ｄｔ）↓ｐを求め、更に仮想融解ピークＢの立ち上がり勾配Ｃを求める。次に融解ピークＡの曲線と温度軸線で囲まれた吸熱量Ｑに相当する面積∫↓（Ｔｂ）↑（Ｔｅ）（ｄＱ／ｄｔ）ｄＴを求め、ＴｂからＴｅまでの各温度でのΔＱ／Ｑに相当する（ｄＱ／ｄｔ）／∫↓（Ｔｂ）↑（Ｔｅ）（ｄＱ／ｄｔ）ｄＴを求める。各温度は立ち上がり勾配Ｃで補正する。高分子結晶の結晶長の一般式より、結晶長ζを求め、Ｆ（ζ）＝（ΔＱ／Ｑ）／ζにΔＱ／Ｑとともにζを代入してＦ（ζ）から結晶長分布を求める。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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