異常領域検出装置および異常領域検出方法

開放特許情報番号
L2006005781
開放特許情報登録日
2006/9/15
最新更新日
2015/9/18

基本情報

出願番号 特願2006-167961
出願日 2006/6/16
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2007-334766
公開日 2007/12/27
登録番号 特許第4603512号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 異常領域検出装置および異常領域検出方法
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア、検査・検出
適用製品 高次局所自己相関特徴データ、異常領域検出装置、異常領域検出方法
目的 高次局所自己相関特徴を用いて異常の有無と共に位置を高い精度で検出できる高速かつ汎用的な異常領域検出装置および異常領域検出方法の提供。
効果 画素対応に異常判定が可能であり、異常領域の位置を正確に検出可能である。また、画素を中心とする所定の範囲を適切に選択すれば、検出対象が多数あっても異常領域の判定精度が低下することがない。さらに、特徴抽出や異常判定のための計算量が少なく、かつ計算量は対象に依らず一定であるので、高速に処理可能である。
技術概要
この技術では、異常領域検出装置は、画像データから画素毎に高次局所自己相関によって特徴データを抽出する特徴データ抽出手段を備えると共に、所定の距離だけ離れた画素毎に、その画素を含む所定の範囲の画素群について特徴データ抽出手段によって抽出した特徴データを加算する画素対応特徴データ生成手段を備える。また、正常領域を示す部分空間に対する画素対応特徴データ生成手段により生成した特徴データの異常さを示す指標を計算する指標計算手段を備え、指標が所定値よりも大きい場合に異常と判定する異常判定手段を備え、異常判定手段が異常と判定した画素位置を異常とする判定結果を出力する出力手段を備える。また、この異常領域検出装置において、特徴データ抽出手段は、変位幅の異なる複数の高次局所自己相関特徴データを抽出するものとする。また、部分空間に対する異常さを示す指標は特徴データの部分空間との距離あるいは角度の情報のいずれかを含むものとする。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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