溶接アーク光の影響下での動的ひずみの測定方法とその測定装置

開放特許情報番号
L2006004812
開放特許情報登録日
2006/9/1
最新更新日
2015/10/5

基本情報

出願番号 特願2000-078514
出願日 2000/3/21
出願人 独立行政法人物質・材料研究機構
公開番号 特開2001-264026
公開日 2001/9/26
登録番号 特許第3413487号
特許権者 国立研究開発法人物質・材料研究機構
発明の名称 溶接アーク光の影響下での動的ひずみの測定方法とその測定装置
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 高温割れ等の溶接部の欠陥評価、残留応力の推定のための力学的情報
目的 溶接施工途中の被溶接物に生じる動的ひずみを、アーク光の影響下にあっても、溶融池を除く所望の個所および所望の時期に測定することができる測定方法の提供。
効果 溶接施工途中の被溶接物に発生する動的ひずみを、ひずみ測定点と同じ面側で溶接アークが発生するアーク光の影響下にあっても、溶接アークがひずみ測定点から離れた位置でも、また接近した位置でも、溶融池を除く所望の箇所および所望の時期に測定することができる。また、光検出手段として遮光筒内にバンドパスフィルターを設置した場合には、これによってアーク光のレーザーと異なる波長成分がカットされるため、微小のアーク光が入っても、測定に影響を与えることはなく、近傍位置での測定が可能である。
技術概要
本技術は、溶接アークと同じ面側にあって溶接アーク光の影響下にあるひずみ測定点にレーザーを照射して、乱反射したレーザーの相互干渉によって生じるスペックルパターンの変化および移動をセンサー面上で検出して動的ひずみを測定するに際して、内部に間隔をおいて設置された2つのピンホールを有する遮光筒によって、アーク光がひずみ測定点から離れている場合はそのアーク光を遮光しながら、乱反射したレーザーをセンサー面上に検出するようにした動的ひずみ測定方法を提供する。また、遮光筒内にバンドパスフィルターを追加設置し、このバンドパスフィルターによってアーク光のレーザーと異なる波長成分をカットして測定を行う。そして、アーク光がひずみ測定点と近い場合はレーザーの強度を上げてアーク光との強度比を大きくし、乱反射レーザーとアーク光の光量の差を大きくして測定を図るようにする。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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