高分子電解セル劣化評価法

開放特許情報番号
L2006004742
開放特許情報登録日
2006/9/1
最新更新日
2017/3/22

基本情報

出願番号 特願2004-352143
出願日 2004/12/6
出願人 独立行政法人日本原子力研究開発機構
公開番号 特開2006-161083
公開日 2006/6/22
登録番号 特許第4803699号
特許権者 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
発明の名称 高分子電解セル劣化評価法
技術分野 有機材料、電気・電子
機能 検査・検出、その他
適用製品 高分子電解セル劣化評価装置
目的 トリチウム含有水の処理に使用され、放射性物質で汚染したフッ素樹脂系高分子電解膜のサンプリング作業を排除し、かつ遠隔での測定を実現することで、フッ素樹脂系高分子電解膜の劣化度合いを連続で、かつ一つの因子の測定により多元的に劣化度合いを評価する方法を提供する。
効果 連続・遠隔・オンラインで測定可能なフッ素イオン量測定を行うことで、放射性元素取り扱い環境下における定期的サンプリングを除外することができると共に、フッ素イオン量測定のみで、電解膜の劣化度合いを連続・多元的に評価できる。
技術概要
トリチウム水を含む水の電気分解用固体高分子型電解槽を構成するプロトン(H↑+)伝導性のフッ素樹脂系高分子電解膜の主鎖の性能を示す強度及び導電性能を示し側鎖の性能を評価する指標であるイオン交換容量値の二つの指標が、劣化によって循環水中に溶出するフッ素イオン量と共に強い相関があることを利用し、フッ素イオン量の監視のみからフッ素樹脂系高分子電解膜の劣化度合いを多元的に評価する。図1で推察されたとおり、最大点強度と溶存フッ素量には明確な相関を有していることがわかる。本相関関係を利用することで溶存フッ素量の測定値から主鎖の劣化度合いを把握することができる。またイオン交換容量値と溶存フッ素量についても明確な相関を有しており、溶存フッ素量の測定値から側鎖の劣化度合いもまた把握することができる。図2に最大点強度と溶存フッ素量の相関関係、及びイオン交換容量と溶存フッ素量の相関関係を示す。イオン交換容量測定の工程は図3に示す。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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