| 出願番号 |
特願2004-276533 |
| 出願日 |
2004/9/24 |
| 出願人 |
国立大学法人宇都宮大学 |
| 公開番号 |
特開2006-090835 |
| 公開日 |
2006/4/6 |
| 登録番号 |
特許第4324672号 |
| 特許権者 |
国立大学法人宇都宮大学 |
| 発明の名称 |
ダイアモンド電極及びこれを用いた無電解ニッケルめっき浴の管理方法並びに測定装置 |
| 技術分野 |
電気・電子、化学・薬品 |
| 機能 |
検査・検出 |
| 適用製品 |
ダイアモンド電極及びこれを用いた測定装置 |
| 目的 |
より安価でかつ迅速な手法によりニッケル無電解めっき浴中のニッケル濃度を定量できる無電解ニッケルめっき浴の管理方法及び測定装置並びにこのようなめっき浴管理において、用いられ得る長期的に安定で再現性良く測定できる作用電極を提供する。 |
| 効果 |
ホウ素ドープダイアモンド電極を作用電極として用いる電気化学的手法により、より安価で、迅速に、無電解ニッケルめっき浴中のニッケルの検量が可能となる。無電解ニッケルめっき浴中には、金属塩、還元剤、錯化剤及び各種添加剤等が含まれることにより、電気化学的手法によるニッケル量の定量は極めて困難であることが予想されるが、これらの影響の少ない三段階的手法を用いることにより、正確性良くニッケル量の定量が可能となった。 |
技術概要
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ホウ素のドーズ量が１×１０↑１↑９〜２×１０↑１↑９ａｔｏｍｓ／ｃｍ↑３であるホウ素ドープダイアモンド電極からなる作用電極、並びに対向電極及び参照電極を、ポテンショスタットに接続してなる測定装置を用い、（１）試料溶液中で作用電極電位を、試料溶液中のＮｉイオンが電極上にＮｉとして析出される還元側条件に所定時間保持し、（２）試料溶液中で、作用電極電位を、析出したＮｉ表面がオキシ水酸化ニッケル（ＮｉＯＯＨ）となる酸化側条件に所定時間保持し、（３）試料溶液中で、作用電極電位を微分パルスボルタンメトリー法に基づき、（２）段階における作用電極電位を開始電位として所定電位まで電位走査することにより、めっき浴中に含まれるＮｉ濃度を求める。図１（ａ）は、マイクロ波プラズマＣＶＤ法により作製されたホウ素ドープダイアモンド電極の一例における表面の電子顕微鏡写真（倍率３０００倍）及びその図面であり、図１（ｂ）は、同表面のより拡大された電子顕微鏡写真（倍率７０００倍）及びその図面である。図１（ｂ）のように、表面には三角形や四角形に成長したダイアモンドの特徴的な結晶粒が存在する。図２は、電気化学測定装置の構成例を示す模式図である。 |
| イメージ図 |
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| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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