温度計の低温度校正装置

開放特許情報番号
L2006004007
開放特許情報登録日
2006/6/23
最新更新日
2015/9/17

基本情報

出願番号 特願2006-072460
出願日 2006/3/16
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2007-248277
公開日 2007/9/27
登録番号 特許第4714850号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 温度計の低温度校正装置
技術分野 その他
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 温度計の低温度校正装置
目的 液体酸素(−182.953℃)と液体窒素(−195.798℃)を混合することにより、アルゴンの三重点温度(−189.3442℃)を生成するとともに、基準温度計及び被校正温度計を収納した比較校正ブロックを混合液体中に浸漬し、混合液体を撹拌させることを基本的技術思想とするものであり、基準温度計及び被校正温度計の温度の均一・安定を図る。
効果 装置の構成がシンプルであり、従来の定点実現装置にくらべ操作が容易である。また、一度の操作で複数の温度計を同時に校正でき、また、温度計の交換も容易なので校正作業が効率的である。また、校正する際の温度均一性・安定度も良く、産業界が求めている10mK以内の合成標準不確かさで校正することが可能である。
技術概要
図1は、温度計の低温度校正装置を説明するための装置概略を示す正面断面図である。温度計の低温度校正装置は、主として、断熱容器1、断熱容器1内の空間に保持され基準温度計5及び被校正温度計6を収納する収納部11を備えた比較校正ブロック4、比較校正ブロック4を浸漬するように断熱容器1内の空間に供給された冷却用の液体窒素及び液体酸素の混合液体2及び混合液体2を撹拌する撹拌器7から構成されている。図2は、比較校正ブロック4を説明するための斜視図である。比較校正ブロック4は、温度の均一化を図るために銅やアルミニウムなど低温で高熱伝導率の材料により形成されている。比較校正ブロック4には基準温度計5及び被校正温度計6を挿入し、収納するための収納部11が設けられている。複数本の被校正温度計6を同時に校正できるように3個以上の収納部11を設ける。図3は、混合液体2を撹拌した場合としなかった場合とにおける比較校正ブロック4の鉛直方向の温度分布を比較した一例を示したもので、温度計を比較校正ブロックの最下部まで挿入した時を基準にし、温度計を鉛直方向に移動させた時の最下部との温度差でその温度分布を表している。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

導入メリット 【改善】
改善効果1 液体窒素と液体酸素の混合比を調節することにより、窒素の沸点(−195.798℃)から酸素の沸点(−182.953℃)までの任意の温度でも校正することができる。このため、熱電対温度計や国際温度目盛の条件を満たさない抵抗温度計など、定点温度だけでの校正では定点間の温度の補間を行えない温度計についても、その温度範囲での校正に対応出来る。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2017 INPIT