画像解析装置、画像解析プログラム、及び画像解析方法

開放特許情報番号
L2006003729
開放特許情報登録日
2006/6/2
最新更新日
2008/10/17

基本情報

出願番号 特願2003-076294
出願日 2003/3/19
出願人 国立大学法人東京工業大学
公開番号 特開2004-184391
公開日 2004/7/2
登録番号 特許第4142966号
特許権者 国立大学法人東京工業大学
発明の名称 画像解析装置、画像解析プログラム、及び画像解析方法
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 リモートセンシング、航空機画像、被覆パターン
目的 ミクセルを含む画像データから、周期的な空間分布を有する対象物の占有率分布を高精度に推定する技術の提供。
効果 上空から撮影された土地の画像データなどが有する混合スペクトルを複数のピュアスペクトルに分離して、被覆パターンを解析することができる。
技術概要
この技術の画像解析装置は、周期的な空間分布を有する対象物の反射率及び背景の反射率の混合信号を含む画像データから、対象物の占有率を算出するものであり、分析部と、基準値設定部と、任意性消去部とを有する。分析部は、対象物の反射率と背景の反射率との差を混合比とすると共に、対象物の占有率を独立成分として、独立成分分析により混合信号からノイズを分離して、混合比及び独立成分を任意性のある解として算出する。基準値設定部は、背景の反射率の波長微分において安定した値を、基準値として求めておく。任意性消去部は、背景の反射率が基準値をとると仮定して、任意性のある解として算出された混合比及び独立成分を、それぞれ1つの解に決定する。従って、混合信号から、対象物の占有率を算出できる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2018 INPIT