分光化学分析及び3次元形状観察法並びにその装置

開放特許情報番号
L2006003043
開放特許情報登録日
2006/4/14
最新更新日
2015/9/15

基本情報

出願番号 特願2005-348029
出願日 2005/12/1
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2007-086047
公開日 2007/4/5
登録番号 特許第4621893号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 物体の調査方法及び調査装置
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 分光化学分析、顕微鏡画像イメージング、非破壊内部検査
目的 着色されたガラスやプラスチックのような光吸収材料、あるいは、磨りガラス、紙、生体などの光散乱物の向こうにある透明物体の3次元形状と分光特性の測定。
効果 励起パルスで励起した位置のみに吸収を励起し、それをモニターするので、3次元位置選択性が得られる。また、近赤外光を使って、励起・モニターするので、不透明物体、つまり励起光が強く吸収あるいは散乱される試料に対しても適用することができる。
技術概要
この技術では、物質による吸収・散乱の影響を受けにくい波長の異なる二つの近赤外短パルスレーザー光を用いる。そして、第1のパルスを多光子励起パルス、第2のパルスを吸収モニターパルスと呼ぶ。試料の一点に集光した第1パルスの多光子吸収過程によって観測物を電子的励起状態に遷移させる。これによって誘起される近赤外波長領域の光吸収を同じ位置に集光した第2パルスでモニターする。吸収スペクトルあるいは2パルス間の時間差を掃引したときの吸収強度応答から物質を同定する。レーザーの集光位置を3次元的に走査することによって物体の形状を観測することも可能である。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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