側方散乱光を用いた遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置

開放特許情報番号
L2006001972
開放特許情報登録日
2006/3/17
最新更新日
2015/8/5

基本情報

出願番号 特願2003-294227
出願日 2003/8/18
出願人 独立行政法人 日本原子力研究開発機構
公開番号 特開2005-062055
公開日 2005/3/10
登録番号 特許第3963381号
特許権者 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構
発明の名称 側方散乱光を用いた遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 レーザー光散乱方式のパーティクルカウンター装置、インパクター装置
目的 画像中の斑点の数、及び斑点の輝度を解析することにより、遠方の限られた空間に存在する微粒子の数、密度、粒径分布及び空間分布等を同時に算出する、側方散乱光を用いた遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置の提供。
効果 非接触かつ遠隔での気中に浮遊する微粒子、エアロゾルの数量及び粒径分布の直接且つ同時に測定が可能となるため、これまで測定が困難であった場所でも微粒子の計測が容易となる。また、同時にそれらの空間分布を精度良くかつ瞬時に短時間で測定することができる。
技術概要
この技術では、レーザー光をシリンドリカルレンズ等の出射光学系を用いてレーザー光をシート状に広げて気中に照射する。レーザー光のシートの厚みは、レーザー径と同等の長さである。一方、扇状に広がる方向の角度は出射光学系のレンズの焦点距離によって決まり、レーザー光は伝播距離とともに照射領域が広がる。このレーザー光が通過するシート状の空間領域からそこに浮遊する微粒子個々から側方散乱光が発生する。このレーザー光のシート面から発せられる微粒子個々からの側方散乱光は、シート面に対して垂直方向から集光光学系である望遠レンズ等の集光器により、レーザーパルス光と同期をとった高感度2次元光検出器に斑点状の画像として計測制御システムで観測される。ここで得られる側方散乱光の画像は、望遠レンズの視野内にあり、かつレーザー光のシート領域内にある微粒子からのものである。レーザー光が高感度2次元光検出器のシャッター時間内にシート領域内の望遠レンズの視野内を通過したときに個々の微粒子から発せられた側方散乱光が画面に多数の斑点となって検出される。
実施実績 【無】   
許諾実績 【有】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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