負イオン中性粒子入射装置の制御装置及び制御方法

開放特許情報番号
L2006001838
開放特許情報登録日
2006/3/17
最新更新日
2006/3/17

基本情報

出願番号 特願2000-365485
出願日 2000/11/30
出願人 独立行政法人 日本原子力研究開発機構
公開番号 特開2002-170700
公開日 2002/6/14
発明の名称 負イオン中性粒子入射装置の制御装置及び制御方法
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、制御・ソフトウェア
適用製品 負イオン中性粒子入射装置、負イオン源、負イオン、負イオン源のフィラメントの加熱電力を制御
目的 プラズマへ入射する十分なパワーが得られないことの改善。
効果 より高性能な負イオンビームを得ることが期待できる。運転条件に応じた最適な制御定数を選定するための試験を極めて効率良く行うことができる。
技術概要
この技術は、負イオンNBI装置の運転制御用計算機システムとフィラメント電源の制御装置とを組合せて機能させることにより、フィラメントの予熱時及びアーク放電安定化のための初期放電(プリアーク)時には主に時間的に一定な電力によりフィラメント加熱を行い、負イオンビームの引出し/加速の時には予め計算機システムでプログラムした内容のとおり、フィラメント加熱電力を時間的に数段階減少させる制御装置である。これにより、引出し/加速される負イオンビーム電流が時間的に大きく変化することを防止すると共に、フィラメント加熱電力の設定値をプリアーク時には高く、ビーム引出/加速時には低くできるため、この負イオンビーム電流値が小さくなることをも防止することができる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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