パルス光励起表面正孔量測定による光触媒性能評価法

開放特許情報番号
L2006001820
開放特許情報登録日
2006/3/17
最新更新日
2015/8/5

基本情報

出願番号 特願2000-213772
出願日 2000/7/14
出願人 独立行政法人 日本原子力研究開発機構
公開番号 特開2002-031612
公開日 2002/1/31
登録番号 特許第4630995号
特許権者 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構
発明の名称 パルス光励起表面正孔量測定による光触媒性能評価法
技術分野 電気・電子、機械・加工
機能 検査・検出
適用製品 波長可変パルス光、使用予定環境下での触媒性能、光触媒反応、劣化原因
目的 光触媒物質にパルス光を入射し、表面に励起された正孔数をカウントすることで、その光触媒性能を瞬時に測定する手法の提供
効果 評価が困難であった“表面への正孔の移動し易さ”という光触媒性能の優劣を決定する新指標を導入することが可能となり、高活性光触媒の設計に役立つ。また、瞬時に光触媒性能を評価することができる。
技術概要
この技術では、パルス光励起表面正孔量測定による光触媒性能評価法は、光触媒薄膜の表面に透明な絶縁シートをかぶせ、それらを2枚の透明電極ではさみ、パルスレーザーを入射することで表面に励起された正孔数をデジタルオシロスコープで瞬時に観測する。入射パルスレーザーの波長を可変させることにより、その物質の光触媒性能の入射波長依存性も見積もることができる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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