サブミクロン粒子の平均粒径の高精度決定方法とこの方法を実施する装置

開放特許情報番号
L2006000683
開放特許情報登録日
2006/2/10
最新更新日
2015/10/5

基本情報

出願番号 特願2002-262459
出願日 2002/9/9
出願人 独立行政法人物質・材料研究機構
公開番号 特開2004-101325
公開日 2004/4/2
登録番号 特許第3834627号
特許権者 国立研究開発法人物質・材料研究機構
発明の名称 サブミクロン粒子の平均粒径の高精度決定方法とこの方法を実施する装置
技術分野 化学・薬品
機能 検査・検出
適用製品 サブミクロン粒子の平均粒径の高精度決定方法を実施する装置
目的 比較的簡単に、精度良く平均粒径を求めることの出来る粒径測定手段を提供する。
効果 既存の決定法、測定法に比し、あるいはそのための機器類に比し、簡便且つ高精度に被検粒子の平均粒径を決定でき、極めて優れた粒径決定手段と言える。これにより、今後ますます高精度設計が求められるようになってきた、粉体工学の分野を始めとして、特にサブミクロン単位の粉体を取り扱うようになってきた種々の技術分野において、その技術の発展に大いに寄与するものと期待される。
技術概要
被検単分散粒子のコロイド結晶が形成されて成る平板状コロイド結晶素子を対象として、結晶の表面二次元格子からの光回折を生起させる光照射手段と、表面二次元格子からの回折光を捕捉する受光手段とを備え、さらに、これらの手段を用いて決定した二次元回折条件を満足する光の波長と照射角度と受光角度の値を用いて粒子の平均粒径を演算する演算装置を具備する、サブミクロン粒子の平均粒径を決定する装置である。また、光照射手段が、光照射角度を特定でき、かつ、波長を固定した単色光を発する光照射手段であり、受光手段が、受光角度を特定できる受光手段であり、かつ、光照射角度と受光角度の少なくとも一方の角度を可変にする角度変化機構を有し、さらに、受光した光強度の測定手段を備えることが好ましい。図1は二次元光回折測定実施例の説明図(俯瞰図)、図2は二次元光回折測定実施例の説明図(側面図)である。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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