単一粒子光散乱法による微粒子構造解析装置

開放特許情報番号
L2005011435
開放特許情報登録日
2005/12/28
最新更新日
2008/6/13

基本情報

出願番号 特願2003-402170
出願日 2003/12/1
出願人 国立大学法人群馬大学
公開番号 特開2005-164339
公開日 2005/6/23
登録番号 特許第4054876号
特許権者 国立大学法人群馬大学
発明の名称 単一粒子光散乱法による微粒子構造解析装置
技術分野 その他
機能 検査・検出
適用製品 単一粒子光散乱法による微粒子構造解析装置
目的 液体中に懸濁したマイクロメートルサイズの微粒子の微細構造を精確かつ容易に測定することのできる、単一粒子光散乱法による微粒子構造解析装置を提供する。
効果 液体中に懸濁したマイクロメートルサイズの微粒子の微細構造を精確かつ容易に測定することができる。ドラッグデリバリーなどに用いられるマイクロカプセルの物質移動に最も影響を与える膜厚を測定することも可能となり、定量的な制御が行え、これからの実施化が期待される。
技術概要
単一波長光を射出する単一波長光射出部2と、単一波長光を集光する集光レンズ5と、集光レンズ5で集光された単一波長光が照射されるサンプルセル3と、サンプルセル3を保持するセルホルダー4と、サンプルセル3内の単一粒子により散乱された散乱光を受光する受光部6とを有する、単一粒子光散乱法による微粒子構造解析装置において、集光レンズ5とサンプルセル3の間に顕微鏡7が配置されており、顕微鏡観察モードと光散乱測定モードとが切換え可能である単一粒子光散乱法による微粒子構造解析装置1である。単一粒子光散乱法による微粒子構造解析装置に顕微鏡を組み入れることによって、たとえばあらかじめ顕微鏡観察モードで単一の微粒子を光軸上に設置し、次に光散乱測定モードで微粒子の形状や外径といった微粒子の詳細構造を決定することが可能となることから、散乱曲線のモデルを予想することができ、また散乱曲線の解析の際のモデル式(たとえばRayleigh−Gansの式)へのフィッティングパラメータを減らすことが可能なため、被測定粒子の構造を精度良くかつ容易に決定することができる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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