立体原子顕微鏡、原子配列の立体観察方法、及び原子配列の立体写真測定方法

開放特許情報番号
L2005011287
開放特許情報登録日
2005/12/23
最新更新日
2007/6/29

基本情報

出願番号 特願2001-233651
出願日 2001/8/1
出願人 国立大学法人 奈良先端科学技術大学院大学
公開番号 特開2002-139466
公開日 2002/5/17
登録番号 特許第3905338号
特許権者 国立大学法人 奈良先端科学技術大学院大学
発明の名称 立体原子顕微鏡、原子配列の立体観察方法、及び原子配列の立体写真測定方法
技術分野 情報・通信、電気・電子
機能 検査・検出、機械・部品の製造、その他
適用製品 立体原子顕微鏡、原子配列の立体写真測定装置
目的 原子配列の立体構造を立体的に直接目で観察することができる立体原子顕微鏡、原子配列の立体構造を立体的に直接目で観察することができる立体観察方法、及び立体観察に好適な立体写真を測定する測定方法を提供する。
効果 原子配列の立体構造を立体的に直接目で観察することができ、また、本発明の測定方法によれば、立体観察に好適な立体写真を測定することができる。
技術概要
本発明の立体原子顕微鏡は、円偏光を試料に照射する円偏光照射手段と、照射された円偏光によって生じる円2色性の光電子前方散乱ピークで形成される光電子回折パターンを二次元的に検出する二次元光電子検出手段とを備えることを特徴とし、光電子回折における円2色性を用いることによって原子配列を異なる2方向から見た2つの像を求め、この2方向から見た2つの像をそれぞれ左右の目で見る像に対応させることによって、原子配列の立体的な観察を行うものであり、原子配列の立体的観察は、光電子回折における円2色性を用いることによって視差角を有した像を得ることができる点に基づいており、観察原子について異なる視差角の方向から見た2つの像を円2色性を用いて求め、2つの像をそれぞれ左右の目で見ることによって三次元像として認識し立体的に観察する。図は立体原子顕微鏡を説明するための概略図である。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

導入メリット 【 】
改善効果1 原子配列の立体構造を立体的に直接目で観察することができ、また、本発明の測定方法によれば、立体観察に好適な立体写真を測定することができる。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【有】   
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