飛行時間質量分析計

開放特許情報番号
L2005008249
開放特許情報登録日
2005/8/19
最新更新日
2007/2/2

基本情報

出願番号 特願2005-145226
出願日 2005/5/18
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2006-322776
公開日 2006/11/30
発明の名称 飛行時間質量分析計
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 粒子通過制御器、パルスレーザー照射器、超音速ノズル、超伝導トンネル結合粒子検出器、機械式のチョッパ
目的 被測定粒子をイオン化し、そのイオンを電気的に加速させ、イオンの質量及び電荷に依存して変化するイオンの飛行時間に基づき、被測定粒子を分離して分析を行う飛行時間質量分析計(TOFMS)において、中性粒子をイオン化することなく、中性状態のままで質量分析を行うことができる飛行時間質量分析計の提供。
効果 中性粒子をイオン化することなく、中性状態のままで質量分析を行うことができる飛行時間質量分析計を得ることができる。
技術概要
本技術は、中性粒子の放出源としての中性粒子放出器、及び粒子の検出時刻と衝突エネルギーの双方の計測が可能な粒子検出器を備え、これらの機器からの信号を入力して質量計測を行う質量計測部からなる。この際、放出時刻を精度よく決定できる中性粒子放出器を用いる。そして、中性粒子放出器の放出出口と粒子検出器の間の距離をL↓0とし、これを正確に測定する。放出させた粒子を真空中で他物質と衝突させることなく自由飛行させた後、粒子検出器で検出する。粒子検出器で検出する情報は、粒子の到達時刻(t↓s)と粒子の衝突エネルギー(E)の双方である。衝突エネルギーは、粒子が自由飛行時に持っていた運動エネルギーと等価である。中性粒子放出器での放出時刻(t↓0)から、粒子検出器に到達した時刻(t↓s)までの全飛行時間TOF↓0は、TOF↓0=t↓s−t↓0と求まる。また、自由飛行時の粒子の速度vはv=L↓0/TOF↓0と求まる。粒子の質量をMとすると、E=Mv↑2/2であるので、質量MはM=2E(TOF↓0/L↓0)↑2から正確に求めることができる。このような演算を質量計測部で行う。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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