電流の計測方法および表面の測定装置

開放特許情報番号
L2005007315
開放特許情報登録日
2005/7/8
最新更新日
2005/7/8

基本情報

出願番号 特願2000-372814
出願日 2000/12/7
出願人 静岡大学長
公開番号 特開2002-174580
公開日 2002/6/21
登録番号 特許第3551308号
特許権者 国立大学法人静岡大学
発明の名称 電流の計測方法および表面の測定装置
技術分野 電気・電子、機械・加工
機能 検査・検出、材料・素材の製造
適用製品 電流計測装置、表面形状計測装置
目的 導電性の基板に分子を結合させて電気的接合をとり、また分子に導電性の探針を接触させて、探針に電圧を印加し、探針と基板との間に流れる電流を計測することで1分子または数分子に流れる電流を計測することができる電流の計測方法、表面の測定装置および顕微鏡装置を提供する。
効果 1分子または数分子に流れる電流を計測することができ、その分子の分布を計測することもできる。
技術概要
本発明は、導電性の基板に結合させた分子に導電性の探針を接触させる段階と、探針に電圧を印加して探針と基板との間に電流を流す段階と、電流を計測する段階とを含む電流の計測方法、表面の測定装置および顕微鏡装置を用いるものである。図は、基板1上の分子2に探針3を接触させて、分子2を流れる電流を電流測定手段で計測しているところを示す。図では、基板1は、導電性を有し、分子2といった微小試料を流れる電流を計測するために、例えば原子レベルで平坦な表面を有することが好ましい。本発明に用いる基板1は、導電性を有し、原子レベルで平坦な表面を有する金、銀、銅といった金属のほか、分子2を通して流れる電流を計測できる程度に平坦な表面を有するものであればいかなるものでも使用することができる。また、絶縁性の基板に金属といった導電性物質を蒸着といった方法によってメッキして導電性を有するようになされていても良い。
実施実績 【試作】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【可】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

導入メリット 【 】
改善効果1 分子を通して流れる電流を計測することで1分子または数分子に流れる電流を直接計測することができる。
改善効果2 分子の種類に応じて電気抵抗といった電導効率を比較することが可能となった。
改善効果3 表面の分子の分布に関する状態を明確に与えることを可能にし、電子、電気、半導体、分析触媒、分離、化学、記憶、記録の各分野に対して多大な応用性を有する。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【有】
国外 【無】   
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