応力測定システム

開放特許情報番号
L2005007108
開放特許情報登録日
2005/7/1
最新更新日
2015/9/18

基本情報

出願番号 特願2005-105328
出願日 2005/3/31
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2006-284393
公開日 2006/10/19
登録番号 特許第4406695号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 応力測定システム
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 応力測定システム
目的 被測定物の三次元形状をも考慮して被測定物表面の応力分布を正確に算出することができる応力測定システムを提供する。
効果 この応力測定システムによれば、被測定物に付与された応力発光物質の発光強度を検出し、且つ被測定物の形状を撮像するための複数台の撮像装置と、複数の撮像装置により撮像された情報に基づき被測定物の三次元形状を算出し、三次元形状により発光強度を補正して応力分布を決定する画像処理装置とを有するので、撮像装置により測光される光量及び撮像情報を基に、三次元形状の被測定物の表面の応力分布を正確に得ることができる。
技術概要
図1に示す応力測定システムは、応力発光物質1から放射された光は、この応力発光物質1の発光強度を検出するために配置された撮像装置である二台の電子カメラ3によって検知され測光される。この電子カメラ3内には集光レンズ及び撮像素子が設けられ、被測定物2からの光は集光レンズで集光され、撮像素子で受光される。撮像素子では光電変換が行われ、その出力信号は、同じく電子カメラ3内に設けられたA/D変換器によってデジタル信号に変換されて発光強度を検出する。このデジタル信号は、例えばケーブルを介して画像処理装置4に入力される。一方、二台の電子カメラ3によって被測定物2の表面形状を撮影した撮影情報が画像処理装置4に入力される。画像処理装置4では、撮像された情報に基づき被測定物2の三次元形状が算出される。三次元形状が分かれば、各電子カメラ3から測定点までの距離も算出でき、光源からの距離が長くなると照度が低下する点を考慮した発光強度の補正処理を行うことができる。図2は、図1の応力発光物質が塗布された被測定物を示す説明図、図3は、応力分布が示された被測定物を表示する表示装置を示す説明図である。
イメージ図
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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