金属表面に吸着した分子等の物性値等の解析方法及び装置

開放特許情報番号
L2005006663
開放特許情報登録日
2005/6/24
最新更新日
2016/2/1

基本情報

出願番号 特願2001-310381
出願日 2001/10/5
出願人 独立行政法人情報通信研究機構
公開番号 特開2003-114880
公開日 2003/4/18
登録番号 特許第4224577号
特許権者 国立研究開発法人情報通信研究機構
発明の名称 金属表面に吸着した分子等の物性値等の解析方法及び装置
技術分野 情報・通信
機能 制御・ソフトウェア、検査・検出
適用製品 金属表面上に吸着した分子や分子集合体の物性値及び安定構造の解析、分子配列制御、分子デバイス設計
目的 金属表面に吸着した分子または分子集合体の物性値等及び安定構造を明らかにすることのできる、実用性を持たせた、コンピューターによる解析方法及び装置の提供。
効果 吸着系全体のエネルギーのみならず、安定構造や吸着物の各種物性値が算出可能となる。
技術概要
この技術では、少なくとも入力した吸着物の構造及び表面の量子化学計算の条件を記録する記録手段を有し、量子化学計算入力データを記録する量子化学計算入力データ記録手段を有する。また、量子化学計算入力データ記録手段からデータを読み出し、吸着物に対する量子化学計算を演算部で計算し原子電荷を決定する原子電荷決定手段を有し、原子電荷データを記録する原子電荷データ記録手段を有し、原子電荷データ記録手段からデータを演算部で計算し、鏡像電荷を配置する鏡像電荷配置決定手段を有する。さらに、鏡像電荷配置を記録する鏡像電荷配置記録手段を有し、表面原子座標データを記録しておく表面原子座標記録手段を有し、鏡像電荷配置記録手段及び表面原子座標記録手段からデータを演算部で計算し複合計算入力データを作成する手段を有する。そして、複合計算入力データを記録する複合計算入力データ記録手段を有し、複合計算入力データ記録手段からデータを読み出し、鏡像電荷存在下での量子化学計算及び経験的原子間解析ポテンシャルの計算を演算部で行う複合計算手段を有し、その結果を記録若しくは出力する手段を有する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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