アナログ/デジタル変換器の性能測定システム及び性能測定方法、並びに、デジタル/アナログ変換器の性能測定システム及び性能測定方法

開放特許情報番号
L2005006201
開放特許情報登録日
2005/6/11
最新更新日
2015/12/21

基本情報

出願番号 特願2003-114235
出願日 2003/4/18
出願人 独立行政法人情報通信研究機構
公開番号 特開2004-320613
公開日 2004/11/11
登録番号 特許第3692405号
特許権者 国立研究開発法人情報通信研究機構
発明の名称 アナログ/デジタル変換器の性能測定システム及び性能測定方法、並びに、デジタル/アナログ変換器の性能測定システム及び性能測定方法
技術分野 電気・電子、情報・通信
機能 制御・ソフトウェア
適用製品 アナログ/デジタル変換器、デジタル/アナログ変換器、ADコンバータ、DAコンバータ、サンプル位相誤差、アパーチャジッタ
目的 アナログ信号をデジタル信号に変換する場合や、デジタル信号をアナログ信号に変換する場合において、その変換器の時間軸変動性能などを測定し得る性能測定システムや性能測定方法の提供。
効果 アナログ信号をデジタル信号に変換する場合や、デジタル信号をアナログ信号に変換する場合において、その変換器の時間軸変動性能などを測定できる性能測定システムや性能測定方法を実現できる。
技術概要
この技術では、アナログ信号をデジタル信号に変換するアナログ/デジタル変換器のサンプル位相誤差の情報を得るアナログ/デジタル変換器の性能測定システムは試験対象の被試験アナログ/デジタル変換器を有すると共に、性能が既知の基準アナログ/デジタル変換器を有し、被試験アナログ/デジタル変換器に係るナイキスト周波数以下でフラットな周波数特性を有するホワイトノイズを発生し、同一のホワイトノイズを被試験アナログ/デジタル変換器及び基準アナログ/デジタル変換器に与えるホワイトノイズ供給手段を有する。また、被試験アナログ/デジタル変換器からの出力デジタル信号と、基準アナログ/デジタル変換器からの出力デジタル信号との相互相関を得る相互相関演算手段を有し、相互相関演算手段による相互相関の時系列に対して周波数分析を行って、被試験アナログ/デジタル変換器のサンプル位相誤差の情報を得る相関/位相誤差変換手段を有する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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