光変調器の特性評価方法、およびそれを用いた高周波発振装置の制御方法

開放特許情報番号
L2005005658
開放特許情報登録日
2005/5/27
最新更新日
2015/12/21

基本情報

出願番号 特願2001-041191
出願日 2001/2/19
出願人 独立行政法人情報通信研究機構
公開番号 特開2002-244091
公開日 2002/8/28
登録番号 特許第3538619号
特許権者 国立研究開発法人情報通信研究機構
発明の名称 光変調器の特性評価方法、およびそれを用いた高周波発振装置の制御方法
技術分野 情報・通信
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 光変調器を用いた高周波発振装置
目的 周波数軸上で決められた点での測定のために、複数の長さの光ファイバーを用いなくても、マッハ・ツェンダ−干渉計型変調器のチャープパラメータや位相情報を導出できる構成とその測定方法を提案する。
効果 マッハ・ツェンダー干渉計型光変調器のチャープパラメータを得るために、複数の長さの光ファイバーを用意する必要がなくなった。
技術概要
レーザ光線を分岐した後に、分岐した光線の位相を高周波信号により変化させ、その位相の変化した光線を他の分岐の光線と合波することによって強度変調された光信号を発生させる光変調器について、その光信号のパワースペクトルを測定し、そのパワースペクトルの比から変調指数あるいは位相を導出する光変調器の特性評価方法である。レーザ光源からの単色光は、光ファイバにより偏波コントローラに導かれ、偏波状態の制御された光が、マッハ・ツェンダ−干渉計型変調器へ入力される。そのマッハ・ツェンダ−干渉計型変調器内部では、レーザ光は、2股に分岐され、それぞれの電極下の導波路に印加される電界が異なることから、お互いに異なった位相変調を受ける。その後、これらのレーザ光は合波され、光スペクトラムアナライザでそのスペクトルが計測される。この計測データは、コンピュータに送られ、計算され、チャープパラメータが評価される。この計算は、高周波信号のスペクトルデータが、スペクトルデータと共に用いられる。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

導入メリット 【 】
改善効果1 マッハ・ツェンダー干渉計型光変調器のチャープパラメータを得るために、複数の長さの光ファイバーを用意する必要がなくなった。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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