太陽電池の特性評価方法

開放特許情報番号
L2004009061
開放特許情報登録日
2004/12/24
最新更新日
2015/9/15

基本情報

出願番号 特願2003-067538
出願日 2003/3/13
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2004-281487
公開日 2004/10/7
登録番号 特許第4139890号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 太陽電池の特性評価方法
技術分野 無機材料、電気・電子、その他
機能 検査・検出、その他
適用製品 太陽電池の非破壊特性評価システム
目的 太陽電池モジュールを構成する個々のセルのI−V特性を非破壊で、より簡便に、より精度高く推定できる評価方法を提供する。
効果 太陽電池モジュール(アレイ)の製品完成後において非破壊で太陽電池モジュール(アレイ)端子からその構成セル(モジュール)のIsc、Voc、I−V特性を容易に推定できる。
技術概要
本発明の太陽電池の特性評価方法は、n個のセルを直列接続した太陽電池モジュールにおいて、光照射下において任意のi(iは1以上n−1以下の整数)個の被解析対象セルに減光板を適用した減光モジュールI−V特性と減光板を外した非減光モジュールI−V特性とを測定し、非減光モジュールI−V特性に対し測定電圧に対してのみ(n−i)/nを掛けて得た推定モジュールI−V特性を算出して、同一電流値に対して減光モジュールI−V特性の電圧値から推定モジュールI−V特性の電圧値を減じてi個の被解析対象セルの減光条件下でのI−V特性を得ることを特徴とする。図は特定のセルを被解析対象セルとして解析を行い、当該セルのI−V特性を推定する評価方法の原理を示す図である。まず、太陽電池モジュール上に均等な光を照射してI−V特性を測定し、次に照射光の強度を変えずに被解析対象セルの上を適当な減光率の減光板を被せ、I−V特性を測定する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

導入メリット 【 】
改善効果1 太陽電池モジュール(アレイ)の製品完成後において非破壊で太陽電池モジュール(アレイ)端子からその構成セル(モジュール)のIsc、Voc、I−V特性を容易に推定できる。
改善効果2 出荷検査時や数年間暴露後の評価においてモジュール(アレイ)を破壊することなく任意のセル(モジュール)のI−V特性を容易にかつ高い精度をもって推定することが可能になる。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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