楕円型光学系

開放特許情報番号
L2004008629
開放特許情報登録日
2004/11/12
最新更新日
2015/9/15

基本情報

出願番号 特願2003-051084
出願日 2003/2/27
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2004-257956
公開日 2004/9/16
登録番号 特許第3760234号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 双楕円柱面鏡を用いた対称X型光学系
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造
適用製品 光テクノロジー、高速大容量光通信、画像処理、レーザメス、ガン治療、精密光計測
目的 試料の反射率と透過率測定で異なった光学系を用いることなく、また、反射率と透過率を測定するために、途中で光学系の一部を『差し替え』る必要がなく、それにより測定結果の大きな誤差要因を排除した任意入射角度での反射率と透過率の同時測定を可能にした光学系の提供。
効果 双楕円柱面鏡を用いた光学系で、この光学系への入射光を平行光線とすると、反射率や透過率を高精度で測定できる。又、市販されている分光光度計等に適用可能であり、分光光度計等の測定精度を向上させ、その機能をさらに拡大することができる。
技術概要
この技術では、外部光源や分光光度計の光源から出た光は、双楕円柱面鏡の光軸に沿って進み、入射用透孔を通過してこの双楕円柱面鏡内へ進み、最初にビーム切換鏡に導かれ、このビーム切換鏡で反射した光は、楕円柱面鏡に達して反射された後、共通焦点(軸)の試料上に集光される。試料支持台の試料面は双楕円柱面鏡の共通焦点(軸)に平行にセットされ、この試料からの出射光(反射光や透過光など)は、楕円柱面鏡に達して反射された後に、再度ビーム切換鏡上に集光される。ビーム切換鏡によって反射された光は、元の光軸上を進み検出器に達する。この光学系では、試料に対して任意の入射角度で入射光を照射でき、試料からの出射光(反射光や透過光など)を任意の角度で測定可能である。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
Copyright © 2018 INPIT