| 出願番号 |
特願2004-077234 |
| 出願日 |
2004/3/17 |
| 出願人 |
独立行政法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 |
特開2005-265559 |
| 公開日 |
2005/9/29 |
| 登録番号 |
特許第4157945号 |
| 特許権者 |
国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 発明の名称 |
Ｘ線ＣＴ装置 |
| 技術分野 |
電気・電子 |
| 機能 |
機械・部品の製造 |
| 適用製品 |
工業用非破壊検査、移動体の可視化、混相流可視化、界面速度計測、不透明流体の分布計測、化学工学、粉体輸送、速度計測、オイル−水−空気などが混合した流れの速度、体積計測、不透明流体の流速・流量計 |
| 目的 |
空間的な高分解能を維持したままで、２断面間距離を、連続的に、大きく変えることが可能となり 、また、２系統の検出器からのデータをもとに、再構成画像の輝度値の時間変化、および、画像再構成し て得られた断層像における吸収係数分布の時間変化から、測定物の垂直方向および水平方向の移動速度を 算出することができるＸ線ＣＴ装置の提供。 |
| 効果 |
工業用非破壊検査、混相流可視化および界面速度計測、化学工学、オイル−水−空気などが混合し た流れの速度、体積計測、不透明流体の流速・流量計、液体中に固体が含まれる流れの固体量計測、ガス で固体を輸送する場合の体積流量計測などに適用できる。 |
技術概要
 |
この技術は、測定物の移動方向に対して、微小距離だけ離して配置された２系統の高感度Ｘ線 検出器を備えたＸ線ＣＴ装置であって、２系統の高感度Ｘ線検出器は、それぞれ移動する測定物を経時的 に断層像を検出するものであり、経時的に検出されたそれぞれ異なる断層像のデータに基づいて密度およ び減衰係数の異なる測定物の速度を求めることができる。そして２系統の高感度Ｘ線検出器のそれぞれの 検出面の間の距離である検出面間距離と、それぞれの検出面における検出データから再構成した測定物の 断層像から求められた時間間隔に基づいて、測定物の移動速度を求めることが可能である。 |
| 実施実績 |
【無】 |
| 許諾実績 |
【無】 |
| 特許権譲渡 |
【否】
|
| 特許権実施許諾 |
【可】
|
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