X線CT装置

開放特許情報番号
L2004007311
開放特許情報登録日
2004/8/13
最新更新日
2015/9/14

基本情報

出願番号 特願2004-077234
出願日 2004/3/17
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2005-265559
公開日 2005/9/29
登録番号 特許第4157945号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 X線CT装置
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造
適用製品 工業用非破壊検査、移動体の可視化、混相流可視化、界面速度計測、不透明流体の分布計測、化学工学、粉体輸送、速度計測、オイル−水−空気などが混合した流れの速度、体積計測、不透明流体の流速・流量計
目的 空間的な高分解能を維持したままで、2断面間距離を、連続的に、大きく変えることが可能となり 、また、2系統の検出器からのデータをもとに、再構成画像の輝度値の時間変化、および、画像再構成し て得られた断層像における吸収係数分布の時間変化から、測定物の垂直方向および水平方向の移動速度を 算出することができるX線CT装置の提供。
効果 工業用非破壊検査、混相流可視化および界面速度計測、化学工学、オイル−水−空気などが混合し た流れの速度、体積計測、不透明流体の流速・流量計、液体中に固体が含まれる流れの固体量計測、ガス で固体を輸送する場合の体積流量計測などに適用できる。
技術概要
この技術は、測定物の移動方向に対して、微小距離だけ離して配置された2系統の高感度X線 検出器を備えたX線CT装置であって、2系統の高感度X線検出器は、それぞれ移動する測定物を経時的 に断層像を検出するものであり、経時的に検出されたそれぞれ異なる断層像のデータに基づいて密度およ び減衰係数の異なる測定物の速度を求めることができる。そして2系統の高感度X線検出器のそれぞれの 検出面の間の距離である検出面間距離と、それぞれの検出面における検出データから再構成した測定物の 断層像から求められた時間間隔に基づいて、測定物の移動速度を求めることが可能である。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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