高抵抗測定方法および高抵抗測定装置

開放特許情報番号
L2004006336
開放特許情報登録日
2004/7/2
最新更新日
2015/9/11

基本情報

出願番号 特願2002-315162
出願日 2002/10/30
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2004-150902
公開日 2004/5/27
登録番号 特許第3716308号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 高抵抗測定方法および高抵抗測定装置
技術分野 電気・電子、機械・加工
機能 検査・検出、制御・ソフトウェア
適用製品 ツェナー標準電圧発生器。抵抗体。
目的 高抵抗を用いることなく高抵抗測定用のブリッジを構成することができるようにすること。
効果 10↑10〜10↑14Ω程度の高抵抗を上位3桁程度の高い精度をもって測定することができる。
技術概要
高抵抗測定方法は、図のように第1、第2、第3点のそれぞれに3抵抗器の一端が接続されるようにして該3抵抗器により第1の抵抗Y回路を構成し、第4点‐第1点間に被測定抵抗を、第4点‐第3点間に基準抵抗を、第1点‐第3点間に電源を接続し、回路を平衡させて被測定抵抗の抵抗値を求めることを特徴とする。第1の抵抗Y回路を構成する抵抗器の内、第1点に接続される抵抗器が第1の可変抵抗回路により構成されている。第1の可変抵抗回路の可変範囲が4桁である。基準抵抗の抵抗値が可変である。基準抵抗の抵抗値がR〜2.111R(但し、Rは10kΩ〜1MΩの任意の抵抗値)の範囲で可変であって、その最小可変幅がR/1000である。第2点‐第3点間に第1の補助抵抗器が接続される。第4点を接地することなく、第4点の電位が接地電位になるように調整して測定を行う。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

導入メリット 【 】
改善効果1 低抵抗を用いたY型回路により、10↑10〜10↑14Ω程度の高抵抗を上位3桁程度の高い精度をもって測定することができる。
改善効果2 回路的に接地から浮いた主回路に係る漏れ電流の影響を低抵抗の補償回路をもつ接地装置で除去することができる。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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