単一光子検出器評価装置、そのためのプログラムおよび記録媒体

開放特許情報番号
L2004005152
開放特許情報登録日
2004/5/14
最新更新日
2015/9/11

基本情報

出願番号 特願2002-247981
出願日 2002/8/28
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2004-085404
公開日 2004/3/18
登録番号 特許第3774765号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 単一光子検出器評価装置、そのためのプログラムおよび記録媒体
技術分野 電気・電子
機能 検査・検出
適用製品 単一光子検出器評価装置
目的 アフターパルスの発生が無視できないような状況においても単一光子検出器の量子効率を正しく測定できる単一光子検出器評価装置を提供する。
効果 アフターパルスの発生が無視できないような状況においても単一光子検出器の量子効率を正しく測定できる単一光子検出器評価装置を提供することができる。
技術概要
 
本発明の単一光子検出器評価装置は、アバランシェフォトダイオードを受光素子とする単一光子検出器、検出予定時刻を予め等間隔に設定し、検出予定時刻でのみ単一光子検出器を動作させるような制御手段、検出予定時刻に単一光子、又は、光子統計がポアソン分布に従う極微弱光パルスを単一光子検出器に入射させる光源、検出時刻の計時手段、検出時刻を格納する記憶装置、検出時刻から検出時間間隔の発生頻度を求め、発生頻度の確率分布から量子効率を求めるための処理プログラムを実行する計算機から構成している。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

導入メリット 【 】
改善効果1 アフターパルスの発生が無視できないような状況においても単一光子検出器の量子効率を正しく測定できる単一光子検出器評価装置を提供することができる。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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