校正器、及び、校正方法

開放特許情報番号
L2004004625
開放特許情報登録日
2004/4/16
最新更新日
2015/9/11

基本情報

出願番号 特願2004-003916
出願日 2004/1/9
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2005-195530
公開日 2005/7/21
登録番号 特許第4058523号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 校正器、及び、校正方法
技術分野 電気・電子
機能 機械・部品の製造、検査・検出
適用製品 放射線撮影、校正器、校正方法
目的 放射線撮影装置を構成する各装置に依存しない絶対的な基準方向に基づいて、各装置の傾きを校正することのできる校正器、及び、校正方法の提供。
効果 装置に依存しない絶対的な基準を用いて試料台の傾きを校正することができるため、高い精度で試料台を校正することができる。また、試料台の、放射線照射方向に対する傾きと放射線照射方向に直交する面に対する傾きとを同時に検出することができるため、少ない繰り返し回数で試料台の校正を完了することができ、調整に要する労力を大きく低減することができる。
技術概要
この技術では、放射線を照射する放射線源と、試料を載せる試料台と、試料台を挟んで放射線源と対向する位置に配置され、試料を通過した放射線の強度を検出する検出器とを備える放射線撮影装置のうちの試料台の傾きを校正する校正器において、一端が固定してなり、かつ、放射線透過率が周囲の物質よりも小さい材質で形成した線状部材を備え、線状部材の近傍に固定してなり、かつ、放射線透過率が周囲の物質よりも小さい材質で形成した金属薄板を備える。そして、線状部材と金属薄板とに放射線を照射することにより検出器で検出した結果に基づいて、試料台の、放射線照射方向に対する傾きと放射線照射方向に直交する面に対する傾きとを、同時に検出して校正する。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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