光パルスのタイミングジッター計測方法およびそのための計測装置

開放特許情報番号
L2004004412
開放特許情報登録日
2004/3/26
最新更新日
2015/9/10

基本情報

出願番号 特願2002-180179
出願日 2002/6/20
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所
公開番号 特開2004-020537
公開日 2004/1/22
登録番号 特許第3843316号
特許権者 国立研究開発法人産業技術総合研究所
発明の名称 光パルスのタイミングジッター計測方法およびそのための計測装置
技術分野 機械・加工、電気・電子、その他
機能 検査・検出、環境・リサイクル対策、洗浄・除去
適用製品 光ファイバ通信装置、光サンプリング計測装置
目的 光検出器や信号解析装置によって計測可能な光パルスのタイミングジッター計測方法およびそのための計測装置を提供する。
効果 電気光学的な手法により、光パルス強度を低周波の中間周波信号に変換するため、光検出器や信号解析装置の帯域に制限されることなく、高い繰り返し周波数を持つ光パルスのジッター計測が可能になる。
技術概要
本発明の光パルスのタイミングジッター計測方法は、高繰り返し周波数の光パルスを、高繰り返し周波数より低い周波数の信号で強度変調して、高次の変調側帯波光を有する縦モード信号光を生成し、縦モード信号光と高次の変調側帯波光を検出し、検出出力からタイミングジッターを求めることを特徴とする。また光パルスのタイミングジッター計測装置は、高繰り返し周波数の縦モードパルス光を発生する高繰り返しパルス光源11と、光強度変調器12と、光検出器13と、信号解析装置14と、局部発振器のマイクロ波信号源15とからなり、高繰り返しパルス光を局部発振器信号により高次の側帯波を有するパルス光に変換し、高次の側帯波周波数と縦モードの周波数の差を高繰り返し周波数に比べ測定可能な程度に格段に小さくした中間周波数の光パルスとして出力し、中間周波数の光パルスを検出して電気信号に変換し、電気信号を解析して高繰り返しパルスのジッターを求めることを特徴とする。
実施実績 【無】   
許諾実績 【無】   
特許権譲渡 【否】
特許権実施許諾 【可】

アピール情報

導入メリット 【 】
改善効果1 電気光学的な手法により、光パルス強度を低周波の中間周波信号に変換するため、光検出器や信号解析装置の帯域に制限されることなく、高い繰り返し周波数を持つ光パルスのジッター計測が可能になる。

登録者情報

その他の情報

関連特許
国内 【無】
国外 【無】   
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